[发明专利]一种基于三步相移法的涡旋光模式检测方法

权利要求书

1.一种基于三步相移法的涡旋光模式检测方法，其特征在于：涡旋光是一种具有螺旋波阵面的特殊光场，三步相移法是一种相位测量方法，利用三步相移法制备所需涡旋光的全息图，通过空间光调制器法在相同平面记录初始涡旋光的强度分布和三束相移涡旋光的干涉分布，结合相位公式得到涡旋光的复振幅分布，计算机将该复振幅分布与不同拓扑荷数的标准涡旋光基进行卷积运算可得到目标涡旋光的模式度和模式纯度，实现目标涡旋光的模式分析。

2.根据权利要求1所述的基于三步相移法的涡旋光模式检测方法，其特征在于：三步相移法制备所需的全息图，首先制备出目标涡旋光的复振幅调制全息图，在此全息图的基础上叠加三束相移分别为0、0.5π、π的一维光栅，得到三张新的全息图，将四张全息图依次加载到空间光调制器，每次的出射光即为所需的涡旋光。

3.根据权利要求1所述的基于三步相移法的涡旋光模式检测方法，其特征在于：可以进行完美涡旋光的模式纯度分析，首先制备出完美涡旋光束的复振幅调制全息图，并制备与之拓扑荷数相反的完美涡旋光束复振幅调制全息图，两者发生干涉并叠加三束相移分别为0、0.5π、π的一维光栅，得到三张新的全息图，将四张全息图依次加载到空间光调制器，出射光即为所需的涡旋光。