[发明专利]一种阵列测向校准方法有效
| 申请号： | 201911141795.7 | 申请日： | 2019-11-20 |
| 公开（公告）号： | CN110988786B | 公开（公告）日： | 2023-09-22 |
| 发明（设计）人： | 蔚微;鲜果;江山 | 申请（专利权）人： | 成都大公博创信息技术有限公司 |
| 主分类号： | G01S3/02 | 分类号： | G01S3/02;G01S3/14 |
| 代理公司： | 深圳市远航专利商标事务所(普通合伙) 44276 | 代理人： | 张朝阳;袁浩华 |
| 地址： | 610097 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 阵列 测向 校准 方法 | ||
1.一种阵列测向校准方法，在阵列测向校准系统上增加校准信号源，其特征在于，采用预校准和实时校准相结合的方法，进行阵列信号的幅相误差校准和方向一致性校准，再进行超分辨DOA估计；
包括下列步骤：
(1)天线阵列的阵元通道数设为M；
(2)在阵元通道前对辅助信号源进行预校准；
(3)对实时测向信号源进行实时校准；
所述步骤(2)包括：
(21)采用0度辅助信号源法得到幅相误差校准矩阵Aci：Aci＝(Ac1，Ac2,……，AcM)；
(22)采集校准信号源数据：控制各通道采集校准信号源数据，快拍数为M，分别记为XJi；
(23)获取通道间相对误差AJi：以通道1为参考，进行归一化，记为AJi＝XJi/XJ1；
(24)计算通道前的幅相误差ATi＝Aci/AJi；
(25)将ATi的值存储于系统内；
所述步骤(3)包括：
(31)采集待测信号源数据：每次测向时，控制各通道采集待测向信号数据，快拍数为M，分别记为Xi＝(X1，X2，……，XM)；
(32)采集校准信号数据，即重复所述步骤(22)和(23)，导入AJi值，作为实时的测向校准矩阵；
(33)幅相误差校准：对采集的各通道数据进行幅相误差校准，即XAi＝Xi/(AJi×ATi)；
(34)方向一致性校准：以通道1为参考，进行方向一致性校准，即XAS＝XAi/E(XA1)；
(35)计算单位矩阵R＝XASXAS′。
2.根据权利要求1所述的一种阵列测向校准方法，其特征在于，所述步骤(21)中Ac1＝1。
3.根据权利要求1所述的一种阵列测向校准方法，其特征在于，所述步骤(23)中AJ1＝1。
4.根据权利要求1所述的一种阵列测向校准方法，其特征在于，所述i为自然数，且1≦i≦M。
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