[发明专利]基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法

说明书

本发明提供一种基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法，其具体包括以下步骤：分析电子产品的主故障机理、确定常规任务剖面、确定热相关或电相关故障机理耦合集合的加速因子，确定加速寿命时间、协同腐蚀相关故障机理耦合集合得到加速试验时间初步协同结果，协同振动相关故障机理耦合集合得到加速寿命试验时间协同结果。与以往方法比较，该方法考虑热疲劳机理、腐蚀机理及振动疲劳机理等多机理耦合和温度应力、腐蚀应力及电应力、振动应力等多应力载荷影响，能够解决具有耦合关系的多机理加速寿命试验载荷谱确定问题，同时，可以给出在多应力条件下进行加速寿命试验的试验方案。

技术领域

本发明涉及寿命分析及可靠性试验领域，尤其涉及一种基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法。

背景技术

随着电子产品的更新换代，电子产品的寿命增长迅速，使用常规试验方法评估其寿命耗时耗力。加速试验作为评估产品正常应力下寿命的重要试验方法，得到广泛应用。但是现有电子产品的失效受到多个机理和多个环境应力的共同影响，因此电子产品的加速因子确定具有困难，通过对现有技术的查新，国内外还没有关于基于故障行为确定电子产品加速寿命试验方案的研究。

发明内容

本发明要解决的技术问题是为试验人员和生产厂商提供一种针对新研电子产品的更为客观准确的电子产品加速寿命试验方法。

为解决上述问题，本发明提出一种基于故障行为的电子产品加速寿命试验方法，该方法包括如下具体步骤：

步骤1、分析电子产品的主故障机理，其具体包括：

步骤11、确定电子产品的主故障机理的种类：

步骤12、按照交变应力敏感型故障机理和恒定应力敏感型故障机理对电子产品的主故障机理进行分类：

若主故障机理的寿命与至少1个应力载荷在某两个时刻的应力差值有关，则判定此机理为交变应力敏感型故障机理；

若主故障机理的寿命不与任何应力载荷在某两个时刻的应力差值有关，仅与应力载荷在某时刻的恒定值有关，则判定此主故障机理为恒定应力敏感型故障机理；

步骤13、按照故障机理与故障机理之间是否具有耦合关系划分集合，方法如下：

判断影响故障机理的应力类型，受相同应力影响的故障机理加入同一个机理耦合集合；

与任何故障机理都没有相同应力影响的故障机理单独成为一个机理集合；

步骤2、确定常规任务剖面，具体包括：

步骤21、确定电子产品常规任务的温度剖面和振动剖面，并截取一个完整的应力循环周期；

步骤22、确定电子产品的常规任务中的电应力水平值和湿度应力水平值；

步骤3、确定热相关或电相关故障机理耦合集合的加速因子，具体包括如下步骤：

步骤31、确定加速试验候选应力水平；

步骤32、计算加速因子矩阵；

步骤33、确定加速应力水平；

步骤34、根据加速因子取小原则，在S_j水平下若第q种机理对应的加速因子A_fqj最小，则加速试验的加速因子为A_fqj，表示为公式：

A_fqj＝min{A_f1j，A_f2j，…，A_fnj}

步骤4、初步确定加速寿命时间t_J0，具体步骤如下：

步骤41、根据产品寿命指标对应的常规应力谱循环单元数和加速因子，确定加速寿命试验谱的循环单元数：