[发明专利]一种在ATE上可实现7816接口通讯同步测试的方法

说明书

本发明公开了一种在ATE上可实现7816接口通讯同步测试的方法，通过该方法，可以在ATE上对应答不同步的芯片实现同步测试，从而在量产中实现7816接口通讯的同步测试。

技术领域

本发明属于集成电路芯片的量产测试领域，具体涉及在量产过程中，在ATE上实现7816接口通讯同步测试。

背景技术

7816接口是IC卡上常用的通讯接口，在量产测试流程中，7816接口通讯是必须要进行测试的。在测试过程中，ATE需要模拟读卡器对7816接口进行测试，面对处理时间较短的指令时，ATE可以实现同步测试，但在面对处理时间较长的指令时，ATE同步测试会遇到困难。

目前在ATE上实现7816接口通讯同步测试的困难有以下2点：

1由于不同芯片的内部时钟频率存在差异，因此处理相同指令所需的时间存在差异，这样会导致不同芯片应答的不同步。目前多数ATE都提供了“匹配”功能，可以对不同步的应答进行同步测试，但是这项功能要求不同步应答的时间差异必须在65536个时钟范围内，如果不同步的时间差异超出了65536个时钟，对于应答慢的芯片，ATE会判定为失效，造成误测。在面对处理时间较长的指令时，芯片间的不同步差异会超过65536个时钟周期，例如某条指令的执行时间为500ms，芯片间的内部时钟频率差异5％，7816接口时钟频率10MHz(100ns)，芯片间的不同步差异为：(500ms*5％)/100ns＝250000个时钟，超过了65536个时钟的限制，ATE无法进行同步测试，量产测试中需要解决这个问题。

2在芯片处理指令过程中，如果指令处理时间较长，芯片在处理结束前有可能会返回NULL(0x60)，用来提示读卡器芯片依然在工作过程中，这个返回会被ATE获得，由于与正常应答数据不符，ATE会判定为失效芯片，造成误测，量产测试中需要避免这种情况的发生。

发明内容

本发明的目的，是在ATE上实现7816接口通讯同步测试，具体方案如下：

1ATE发送指令至各芯片；

2ATE停止7816接口时钟：

1)在ATE停止7816接口时钟的状态下，各芯片内部会自动处理接收到的指令，并将应答信息准备好，但是不会对外发出应答；

2)如果指令处理时间较长，芯片在处理结束前可能会返回NULL(0x60)，但是在停止7816接口时钟的状态下，芯片不会对外返回NULL(0x60)；在指令处理结束后，正常的应答会刷新7816发送寄存器中的内容，NULL(0x60)会被清除掉，只保留正常应答。

3停止7816接口时钟的时间需要进行控制，保证停止的时间足够所有芯片都能处理完指令；

4ATE恢复7816接口时钟，各芯片将准备好的应答发出，各芯片间的不同步情况几乎消除，使ATE可以进行同步测试。

附图说明

图1测试方法流程图

图2使用本方法的2芯片同测波形图

图3未使用本方法的2芯片同测波形图

具体实施方式

以下结合说明书附图对本发明的具体实施方式进行详细说明。

预计芯片处理某条指令的时间约为500ms，芯片之间的内部时钟频率差异5％，7816接口时钟频率10MHz(100ns)，芯片之间应答不同步的差异可达到((500ms*5％)/100ns)＝250000个时钟，ATE无法直接进行同步测试，因此需要通过本方法来降低不同步差异，实现同步测试，图1为测试方法流程图，按照流程图，实施方法如下：

1ATE发送指令至2颗芯片；