[发明专利]窗扫型干涉高光谱成像系统的光程差在线定标方法有效
申请号: | 201911149342.9 | 申请日: | 2019-11-21 |
公开(公告)号: | CN110987181B | 公开(公告)日: | 2020-11-17 |
发明(设计)人: | 柏财勋;李勇;范文慧;李立波;李海巍;畅晨光;胡炳樑;冯玉涛 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01J3/28 | 分类号: | G01J3/28 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 王少文 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 窗扫型 干涉 光谱 成像 系统 光程 在线 定标 方法 | ||
1.一种窗扫型干涉高光谱成像系统的光程差在线定标方法,其特征在于,包括以下步骤:
步骤1:分别以多个波长激光作为光源,采集其通过窗扫型干涉高光谱成像系统的干涉条纹图像;
步骤2:解调步骤1采集到的干涉条纹图像,计算各波长激光采样点处在成像视场范围内的总光程差Δmax′(λ);
步骤3:根据步骤2计算得到的各波长激光采样点处在成像视场范围内的总光程差Δmax′(λ),拟合得到全波段的总光程差Δmax(λ)定标曲线;
步骤4:通过所述窗扫型干涉高光谱成像系统对探测目标进行高光谱成像测量,采集干涉图像序列,并记录干涉图像序列中干涉图像总数M;
步骤5:对步骤4采集到的干涉图像序列进行亚像素图像配准;
步骤6:根据步骤5的图像配准结果,确定步骤4所述的干涉图像序列中第一张干涉图像像素偏移量S1,以及最后一张干涉图像像素偏移量SM;
步骤7:根据步骤3拟合得到的全波段的总光程差Δmax(λ)定标曲线、步骤4记录的干涉图像总数M、以及步骤6确定的第一张干涉图像像素偏移量S1和最后一张干涉图像像素偏移量SM,利用下列公式(1)计算各波长激光的在线总光程差公式(1)具体如下:
其中,λ为波长,N为所述窗扫型干涉高光谱成像系统的有效双边干涉信号的采样点数,C为所述窗扫型干涉高光谱成像系统的成像视场像素列数;
最后拟合得到全波段的在线总光程差定标曲线。
2.根据权利要求1所述的窗扫型干涉高光谱成像系统的光程差在线定标方法,其特征在于:所述步骤2是利用傅里叶变换相位解调方法对单帧激光干涉条纹图像进行相位提取解调,进而计算各波长激光采样点处在成像视场范围内的总光程差Δmax′(λ);或者通过解调干涉条纹图像条纹周期的方式,计算各波长激光采样点处在成像视场范围内的总光程差Δmax′(λ)。
3.根据权利要求1或2所述的窗扫型干涉高光谱成像系统的光程差在线定标方法,其特征在于:所述步骤5采用局部上采样相位相关法,通过调整上采样的尺度因子k,实现1/k像素的干涉图像配准精度,对干涉图像序列进行亚像素图像配准。
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