[发明专利]一种雷达物位计

说明书

本发明公开一种雷达物位计，包括第一导波杆、第二导波杆、信号发射模块、信号接收模块、信号处理模块和固定件，第一导波杆和第二导波杆均与固定件固定连接且二者在固定件的同一侧，第一导波杆和第二导波杆相互平行，信号发射模块与第一导波杆电连接，信号接收模块与第二导波杆电连接，信号处理模块与信号接收模块电连接并处理信号接收模块接收的信号；信号发射模块通过第一导波杆向第一导波杆的径向发出信号；信号接收模块通过第二导波杆接收第一导波杆径向发出的信号，本发明提供的雷达物位计，便于准确测量距离较远和介电常数较低的介质的物位，可一次测量多层不同介质的界面位置。

技术领域

本发明涉及物位检测技术领域，尤其涉及雷达物位计。

背景技术

雷达物位计一种微波物位计，它是微波(雷达)定位技术的一种运用。如图1所示，现有的雷达物位计常通过信号发射模块3连接的导波杆2朝向待测介质1发射能量波信号(一般为脉冲信号)，图中箭头方向为信号传递方向，能量波信号遇到待测介质1后反射，反射信号经由同一根导波杆2传递至信号接收模块4，由信号处理模块5对信号接收模块4接收的反射信号进行处理，根据能量波信号运动过程的时间差来确定物位变化情况。在待测介质1离信号发射模块3和信号接收模块4较远时，能量波信号需要经过长距离的传输，在传输的过程中，能量损耗大，到达待测介质1处后反射回的信号能量弱，信号接收模块4可能无法识别、接收反射信号；另，当待测介质1为介电常数较低的物质(如油以及油水界面等)时，信号发射模块3发出的能量波遇到介电常数较低的物质几乎不会产生反射信号，此时，没有反射信号反馈到信号接收模块4。现有的雷达物位计对于上述两种情况均不易准确测量物位，且仅能对一种介质的界面进行测量。

发明内容

本发明旨在提供雷达物位计，便于准确测量距离较远和介电常数较低的介质的物位，可一次测量多层不同介质的界面位置。

为达到上述目的，本发明采用的技术方案如下：

本发明公开的雷达物位计，包括第一导波杆、第二导波杆、信号发射模块、信号接收模块、信号处理模块和固定件，所述第一导波杆和所述第二导波杆均与所述固定件固定连接且二者在所述固定件的同一侧，所述第一导波杆和所述第二导波杆相互平行，所述信号发射模块与所述第一导波杆电连接，所述信号接收模块与所述第二导波杆电连接，所述信号处理模块与所述信号接收模块电连接并处理所述信号接收模块接收的信号；

所述信号发射模块通过所述第一导波杆向所述第一导波杆的径向发出信号；

所述信号接收模块通过所述第二导波杆接收所述第一导波杆径向发出的信号。

本发明的有益效果是：第一导波杆和第二导波杆平行设置，第一导波杆和第二导波杆之间各处的间距相等，信号发射模块通过第一导波杆发出径向的信号，由于第一导波杆和第二道导波杆之间各处的间距相等，在相同介质内传输相同的距离，信号传输无差异，而当介质不同时，由于信号在不同介质内传输相同的距离具有差异，将第一导波杆和第二导波杆的端部插入待测介质内后，在两种介质交接的界面处，从第一导波杆发出的径向信号经过不同介质的传输后，第二导波杆接收到的信号不同，以此来判定两种不同介质交接界面的位置。信号仅在第一导波杆和第二导波杆之间传输，传输距离短，能量损耗少，可对距离信号发射模块距离较远的介质进行测量；信号接收模块接收到的信号不是反射信号，而是信号发射模块通过第一导波杆直接发出的信号，无须介质反射，只要不同介质之间介电常数存在差异即会造成信号传输产生差异，对于低介电常数的介质，同样可以准确的测量出界面位置，且对于同一容器内存有多层不同介质时，可一次测量多层不同介质的界面位置。

进一步的，所述第一导波杆和所述第二导波杆的表面均具有防腐层。

采用上述进一步方案的有益效果是：防止导波杆腐蚀。

进一步的，所述防腐层选用低介电常数材质。

采用上述进一步方案的有益效果是：减小防腐层对信号传输的影响。