[发明专利]访问光模块寄存器的方法及系统在审
申请号: | 201911150927.2 | 申请日: | 2019-11-21 |
公开(公告)号: | CN112825050A | 公开(公告)日: | 2021-05-21 |
发明(设计)人: | 王旭 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/07 | 分类号: | G06F11/07 |
代理公司: | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司 44281 | 代理人: | 薛祥辉 |
地址: | 518057 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 访问 模块 寄存器 方法 系统 | ||
1.一种访问光模块寄存器的方法,包括:
从在位光模块的各寄存器中分别读取数据,在所述数据错误时向处理器上报;
所述处理器根据多级扫描逐步定位故障寄存器。
2.如权利要求1所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述从在位光模块的各寄存器中分别读取数据之前,还包括:
获取光模块的在位信号,确定所述光模块在位;
在所述在位光模块初始化标志位有效时,访问所述在位光模块的只读寄存器获取寄存器值,当获取到的所述寄存器值和获取到的所述只读寄存器对应的已知值相同时,判定所述光模块的各寄存器在位。
3.如权利要求1所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述从在位光模块的各寄存器中分别读取数据之后,在所述数据错误时向处理器上报之前,还包括:
将读取到的所述数据分别存储至对应页数的在位光模块寄存器中,其中不同页对应存储从不同类别的寄存器获取到的数据。
4.如权利要求1-3任一项所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述从在位光模块的各寄存器中分别读取数据,包括:
每次插入后对所述寄存器进行一次读取;
或,
对所述寄存器进行轮询读取。
5.如权利要求4所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述每次插入后对所述寄存器进行一次读取之后,还包括:
生成中断标志位,所述中断标志位用于表示光模块在位之后寄存器被读取完成的状态标志位。
6.如权利要求4所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述对所述寄存器进行轮询读取,在所述数据错误时向处理器上报,包括:
依次轮询在位光模块的所述寄存器,从所述寄存器中读取数据,将每一次读取到的数据分别和预设阈值进行比较,在根据比较结果确定所述数据错误时,输出所述数据对应的寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位。
7.如权利要求6所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述输出所述数据对应的寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位之后,还包括:
对所述寄存器的错误状态标志位的有效性进行设置,所述错误状态标志位包括故障出现、故障消失;
获取上一周期轮询获取到的所述寄存器的错误状态标志位,依次对比两次的错误状态标志位的有效性,确定所述寄存器当前的错误状态类型,所述错误状态类型包括新出故障、故障消失、一直有故障和一直无故障。
8.如权利要求7所述的访问光模块寄存器的方法,其特征在于,所述处理器根据多级扫描逐步定位故障寄存器,包括:
处理器通过局部总线获取所述寄存器的错误状态类型;
当错误状态类型为新出故障时,获取寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位,根据寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位的有效位置,确定出新出故障位置的寄存器;
当错误状态类型为故障消失时,获取寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位,将所述寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位的有效位置与上一次数据出现错误的所有寄存器的错误类型标志位和端口的错误标志位进行对比,确定出故障消失报错位置的寄存器;
当错误状态类型为一直有故障时,保持寄存器的错误标志位和端口的错误标志位的有效位置不清零。
9.一种系统,其特征在于,所述系统包括读取器件和处理器,所述读取器件通过端口与光模块连接,所述光模块包括至少两个寄存器;
所述读取器件用于从在位光模块的各寄存器中读取数据,在所述数据错误时向所述处理器上报;
所述处理器用于根据多级扫描逐步定位故障寄存器。
10.如权利要求9所述的系统,其特征在于,所述读取器件包括复杂可编程逻辑器件。
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