[发明专利]一种设有脉冲光源的液闪测量仪的测量方法

说明书

本发明涉及一种设有脉冲光源的液闪测量仪的测量方法，能够获取在脉冲光源的标准脉冲条件下系统的单位时间内的实际计数CPM和对应的TDCR值，对仪器本身带来的电子学误差进行了监测，并提出了两种逻辑判断方式，提高了测量精度和测量效率。

技术领域

本发明涉及核辐射或X射线辐射的测量，具体是X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量领域，尤其涉及闪烁体是液体的闪烁探测器辐射强度测量，具体来说是一种设有脉冲光源的液闪测量方法。

背景技术

液体闪烁测量( 简称液闪) 技术是二十世纪五十年代初期发展起来的一种测量低能贝塔射线的有效方法, 也可用于探测其它核辐射，例如可以用于探测阿尔法 射线、中子，伽玛射线等辐射，液闪测量仪被广泛地应用于工业、农业、生物学、化学、医学、药学、地质、水文、考古、环境等诸多方面。

然而，在实际测量中，因为各种因素的干扰，导致测量精度受限，主要的影响因素是淬灭的影响，淬灭的种类很多，包括相淬灭，电离淬灭，浓度淬灭，化学淬灭，颜色淬灭等等淬灭，受此影响，导致样品的计数效率变低（CPM/DPM值变小，CPM表示液闪测量仪对样品的每分钟的计数率; DPM表示样品每分钟的绝对衰变数,两者的百分比叫该样品的计数效率），在实际测量时，直接测量的结果是CPM，如何从CPM准确得到DPM就成为本领域最关心的问题，因为通常淬灭是主要影响因素，因此该反推过程就叫做淬灭校正。现有技术中各厂家生产的已知的淬灭校正方法主要包括内标法，外标法，效率示踪法等，无论采用何种方法，本质上都是寻找到一个可以直接或者间接表征计数效率的指标，并且该指标在物理意义上是可测量的，当测量样品时，通过该可测量的指标就可以知道当下的计数效率，从而可以从测量值CPM计算得到DPM，内标法属于直接的表征方式，但是其需要特殊配置的液闪液，外标法必须有一组和淬灭程度相关的指标与计数效率才能进行拟合，然而外标法因为无法模拟液闪溶液本身的性质，往往测量的结果误差较大，减小误差提高测量精度就成为本领域技术人员的努力方向，而已知的这些方法，本领域技术人员通常更关心使得标准样品的测量和待测样品的测量处于相同的测量条件来减小误差，然而仪器条件，包括光电传感器本身的条件时刻都有可能发生改变，本领域却没有很好的监测方法来对仪器本身可能的性能波动误差进行校正，或者说本领域就没有发现该问题实际也是误差产生的一个重要部分。

发明内容

在现有技术的基础上，申请人的技术团队通过大量的物力和人力投入，研究出了一种液闪测量仪和一种液闪测量仪的淬灭校正方法（实际上研究出了三种可用的方案，本申请涉及一种，另两种方案另案提出申请，每种方案均分为主要单元，整体装置和方法进行布局），首创性提出了无论是外标法还是内标法均应当重视仪器本身的误差，并对此提出了解决方案，可以较明显的提高测量精度，具有预料之外的技术效果。

针对上述现有技术中存在的问题，本发明提供了一种设有脉冲光源的液闪测量仪的测量方法，主要目的是提高液闪测量方法的精度。

为实现上述目的，本发明通过如下技术方案实现：

本发明主要涉及一种设有脉冲光源的液闪测量仪的测量方法，所述的测量方法包括：

步骤一，电子学原始数据建立步骤，在液闪测量仪第一次使用时，将脉冲光源设置在样品承载单元内，控制脉冲光源在不同闪光频率下工作，通过光电倍增管获取多组该光电倍增管采集到的单位时间内的实际计数CPM与和三重-双重符合比值TDCR值，脉冲光源为系统自带的脉冲光源，峰值闪光能力小于20焦耳，脉冲宽度为0.2-0.8s，闪光频率可调节范围为60-100次/分钟；

步骤二，电子学数据监测步骤，在每次标准样品和待测样品测量前，均通过步骤一所述的脉冲光源进行电子学数据监测，具体步骤为，打开脉冲光源，设定闪光频率，记录当前的CPM和TDCR值，至少储存记录两组数据；

步骤三，计算步骤，将所述步骤一中的CPM和TDCR值进行数据拟合得到拟合曲线，计算步骤二中最后一次CPM值与倒数第二次CPM值的差值；