[发明专利]一种基于光强标准灯进行颜色校正的液闪测量方法

说明书

本发明提供了一种基于光强标准灯进行颜色校正的液闪测量方法，使用标准淬灭样品后，又单独使用特别设计的光强标准灯和硅光电二极管来建立被液闪溶液吸光后的实测光强和计数效率的关系，因为颜色深浅和吸光程度成正相关，巧妙的建立了光强和因颜色淬灭影响的计数效率之间的关系，在测量未知样品时，可以很方便的通过测量光强进一步修正计数效率，取得了本领域可预期的常规效果之外的技术效果，并且方便操作，提高了测量精度。

技术领域

本发明涉及核辐射或X射线辐射的测量，具体是X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量领域，尤其涉及闪烁体是液体的闪烁探测器辐射强度测量，具体来说是一种液闪测量方法。

背景技术

液体闪烁测量( 简称液闪) 技术是二十世纪五十年代初期发展起来的一种测量低能贝塔射线的有效方法, 也可用于探测其它核辐射，例如可以用于探测阿尔法 射线、中子，伽玛射线等辐射，液闪测量仪被广泛地应用于工业、农业、生物学、化学、医学、药学、地质、水文、考古、环境等诸多方面。

然而，在实际测量中，因为各种因素的干扰，导致测量精度受限，主要的影响因素是淬灭的影响，淬灭的种类很多，包括相淬灭，电离淬灭，浓度淬灭，化学淬灭，颜色淬灭等等淬灭，受此影响，导致样品的计数效率变低（CPM/DPM值变小，CPM表示液闪测量仪对样品的每分钟的计数率; DPM表示样品每分钟的绝对衰变数,两者的百分比叫该样品的计数效率），在实际测量时，直接测量的结果是CPM，如何从CPM准确得到DPM就成为本领域最关心的问题，因为通常淬灭是主要影响因素，因此该反推过程就叫做淬灭校正。现有技术中各厂家生产的已知的淬灭校正方法主要包括内标法，外标法，效率示踪法等，无论采用何种方法，本质上都是寻找到一个可以直接或者间接表征计数效率的指标，并且该指标在物理意义上是可测量的，当测量样品时，通过该可测量的指标就可以知道当下的计数效率，从而可以从测量值CPM计算得到DPM，内标法属于直接的表征方式，但是其需要特殊配置的液闪液，外标法必须有一组和淬灭程度相关的指标与计数效率才能进行拟合，然而外标法因为无法模拟液闪溶液本身的性质，往往测量的结果误差较大，减小误差提高测量精度就成为本领域技术人员的努力方向。

因此，在现有技术的基础上，申请人的技术团队通过大量的物力和人力投入，研究出了一种液闪测量仪的淬灭校正方法（实际上研究出了三种可用的方案，本申请涉及一种，另两种方案另案提出申请，每种方案均分为主要单元，整体装置和方法进行布局），首创性提出了外标法中需要注意颜色淬灭因素的影响，本领域通常认为外标法已经校正了主要的淬灭问题，然而申请人技术团队的研究发现，如果在现有技术校正的基础上，额外进行颜色淬灭的校正，可以较明显的提高测量精度，具有预料之外的技术效果。

发明内容

针对上述现有技术中存在的问题，本发明提供了一种基于光强标准灯进行颜色校正的液闪测量方法，主要目的是提供一种具有更高精度的液闪测量方法。

为实现上述目的，本发明通过如下技术方案实现：

本发明的方法是基于这样一种液闪测量仪实现的，包括样品承载单元，驱动单元，测量单元，计算控制单元；所述驱动单元包括驱动电机和旋转台，样品承载单元设置在旋转台上，样品承载单元整体和旋转台的一部分设置在测量单元的壳体中，旋转台的另一部分和驱动电机设置在所述测量单的壳体外，驱动电机用于驱动旋转台旋转从而带动样品承载单元旋转，测量单元的壳体中还设置有至少三个光电倍增管，同时设置一个光强标准灯和对应的硅光电二极管，当样品放置在样品承载单元上时，光电倍增管，光强标准灯和硅光电二极管包围样品；计算控制单元与光电倍增管，光强标准灯，硅光电二极管和驱动电机连接，用于控制光强标准灯发出标准光强的光线，接受硅光电二极管的测量信号和收集光电倍增管的测量信号并进行计算以及控制驱动电机进行驱动作业。

进一步地，所述光强标准灯为钨灯，硅光电二极管的光接受面的面积大于100平方毫米，并且，硅光电二极管的光接受面与钨灯的距离不超过36cm。