[发明专利]一种磁瓦内弧尺寸快速检测装置及检测方法在审

专利信息
申请号: 201911152732.1 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN110849246A 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: 冯华;彭博;谢道红;周灿 申请(专利权)人: 湖南航天磁电有限责任公司
主分类号: G01B5/20 分类号: G01B5/20
代理公司: 长沙星耀专利事务所(普通合伙) 43205 代理人: 宁星耀;许伯严
地址: 410200 湖南省*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁瓦内弧 尺寸 快速 检测 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种磁瓦内弧尺寸快速检测装置,包括磁瓦内弧检具和间隙检测工具,其特征在于:所述磁瓦内弧检具包括检具本体,所述检具本体的上端面为圆弧面,即贴弧面,贴弧面的弧度等于待测磁瓦内弧的标准值,所述检具本体上端面的两端设有倾斜向上的凸起,两凸起的内侧面分别为第一斜面和第二斜面,所述第一斜面和第二斜面反向延长线之间的夹角为10°~180°,所述间隙检测工具固定在所述凸起上。

2.根据权利要求1所述的快速检测磁瓦内弧尺寸装置,其特征在于:所述间隙检测工具为百分表,所述百分表的探头贯穿所述凸起,所述探头的端部伸出所述凸起的内侧壁。

3.一种利用权利要求1或2所述磁瓦内弧尺寸快速检测装置对磁瓦内弧尺寸进行检测的方法,其特征在于:包括以下步骤:

S1、使用磁瓦标准件对检具进行校准;

S2、将待测磁瓦的内弧弧面紧贴检具本体的贴弧面,同时将磁瓦一侧内弧斜面紧贴在第一斜面,磁瓦另一侧的内弧斜面紧贴间隙检测工具的探头端部;

S3、磁瓦内弧与所述贴弧面之间无间隙,则判定内弧弧度合格;间隙检测工具显示值则为磁瓦内弧斜面的偏移尺寸;

S4、将磁瓦在检具本体上前后滑动,间隙检测工具的显示值的波动区间则为磁瓦内弧斜面的直线度。

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