[发明专利]一种用于钙钛矿气相生长的中间相及其制备方法与应用有效

专利信息
申请号: 201911157527.4 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN111081880B 公开(公告)日: 2021-10-29
发明(设计)人: 库治良;彭勇;黄福志;程一兵 申请(专利权)人: 武汉理工大学
主分类号: H01L51/42 分类号: H01L51/42;H01L51/44;H01L51/48
代理公司: 武汉智嘉联合知识产权代理事务所(普通合伙) 42231 代理人: 赵泽夏
地址: 430070 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 钙钛矿气 相生 中间 及其 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种用于钙钛矿气相生长的中间相,其特征在于,所述用于钙钛矿气相生长的中间相为B类气氛与无机组分薄膜生成;所述B类气氛为C4H9NH3I与CH(NH2)2Cl的复合气氛;

所述无机组分薄膜中的无机组分薄膜为PbI2薄膜;所述用于钙钛矿气相生长的中间相包括B类气氛与无机组分薄膜生成非目标钙钛矿相或钙钛矿络合相,所述中间相为FAPbClxI3-x与FA2PbCl4钙钛矿中间相。

2.一种如权利要求1所述的用于钙钛矿气相生长的中间相的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括如下步骤:

步骤1、在基底上沉积无机组分形成无机组分薄膜;

步骤2、将步骤1所沉积的无机组分薄膜与B类气氛反应生成该用于钙钛矿气相生长的中间相。

3.如权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤1中所述无机组分薄膜沉积方法为蒸镀、溅射、刮涂、喷墨打印、超声喷雾中的一种或多种。

4.如权利要求2所述的制备方法,其特征在于,所述步骤2的反应温度为100~200℃;压强范围为0.01Pa~0.1MPa;反应时间为20~60min。

5.一种有机-无机杂化钙钛矿半导体薄膜的制备方法,其特征在于所述制备方法包括:

将权利要求1所述的用于钙钛矿气相生长的中间相通入A类气氛生成得到;

或者将无机组分薄膜同时通入B类气氛与A类气氛反应生成得到;

所述A类气氛为CH3NH3I、CH3NH3Br、CH(NH2)2I、CH(NH2)2Br中的至少一种。

6.如权利要求5所述有机-无机杂化钙钛矿半导体薄膜的制备方法,其特征在于,所述A类气氛与所述B类气氛的体积比为1:1~20。

7.权利要求1所述的用于钙钛矿气相生长的中间相在制备有机-无

机杂化钙钛矿半导体薄膜上的用途。

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