[发明专利]一种小型半导体制冷器的测试装置

说明书

本发明提供了一种小型半导体制冷器的测试装置，该装置有一个长方形的底座，底座上装有一个门形支架，门形支架跨立于底座上的一个平台上，平台由绝缘材料制成，门形支架的每个支柱的下部装有一个向外突起的尼龙轴，尼龙轴上套有一个方形金属杆，金属杆的另一端固定有一个探针，每个金属杆各用一根导线连接到一个直流电源的输出端上，门形支架的水平横梁上装有一台红外测温仪，测温仪的镜头对准两个探针的针尖处。方形金属杆可以围绕尼龙轴旋转，使探针能够向上抬起，该测试装置可以筛选出来料的不合格品，保证了生产出的产品不会因为来料不合格而出现废品，不仅提高了成品率，还杜绝了原材料的浪费，提高了生产效率和人工利用率。

技术领域

本发明涉及一种半导体激光器件的测试装置，特别是涉及一种用于制造激光器的小型半导体制冷器的测试装置。

背景技术

目前，许多TOSA产品(半导体激光器)在进行产品检测时，出现温度失控的现象，进而导致了一些废品的出现。究其原因，是由于来料TEC(半导体制冷器)产品没有进行检测，而供应商误将一些TEC器件的正负极做反，造成好坏器件混在一起，且这种情况只有等后续做成了产品而进行检测时，才被发现。因而，不仅浪费了大量的后道工序配件材料，而且，还浪费了后道工序的生产时间和人工，给生产造成了很大的损失。

发明内容

本发明的目的是提供一种来料TEC产品的测试装置，将来料不合格品筛选出来，从源头开始，改善现有生产的缺陷，从而将后续生产的原材料损失降到最低，也减少了人工的损耗和生产时间的浪费。

为了达到上述目的，本发明采用了以下技术方案来实现：

一种小型半导体制冷器的测试装置，该装置有一个长方形的底座，底座上装有一个门形支架，门形支架跨立于底座上的一个平台上，平台由绝缘材料制成，门形支架的每个支柱的下部装有一个向外突起的尼龙轴，尼龙轴上套有一个方形金属杆，金属杆的另一端固定有一个探针，每个金属杆各用一根导线连接到一个直流电源的输出端上，门形支架的水平横梁上装有一台红外测温仪，测温仪的镜头对准两个探针的针尖处。

所述的平台上开有一道平底沟槽，用于摆放待测的TEC器件。

所述的方形金属杆可以围绕尼龙轴旋转，使探针能够向上抬起，而在尼龙轴上还套有一个圆形绝缘垫片，绝缘垫片位于门形支架的立柱与方形金属杆之间。

所述的探针固定是采用在方形金属杆的端部开有一道缝隙和一个夹紧用的螺孔，探针被缝隙夹住以后再用螺丝加以紧固，此种结构配以直杆形探针；也可以将金属杆的端部做成圆杆形并开有一道缝隙并将金属杆的外圆做成锥螺纹形，在锥螺纹上拧有带有锥形内螺纹的螺母，探针被缝隙夹住以后，用锥形内螺纹螺母加以固定，此种结构配以折弯形探针。

所述的直流电源带有一个时间继电器，直流电源的输出受时间继电器的控制。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：

由于本发明提供了一种来料TEC产品的测试装置，可以筛选出来料的不合格品，因此，进入生产线的TEC产品都是合格品，这就保证了生产出的产品不会因为来料不合格而出现废品，不仅提高了产品的成品率，还杜绝了原材料的浪费，提高了生产效率和人工工时利用率。

附图说明

图1是本发明的结构示意图(正面)。

图2是本发明的结构示意图(侧面)。

下面结合附图对本发明的具体实施方式进行详细的说明。