[发明专利]相干叠加态源超分辨率量子测距系统

权利要求书

1.一种相干叠加态源超分辨率量子测距系统，其特征在于：这种相干叠加态源超分辨率量子测距系统包括量子态制备系统、光学发射系统（4）、光学接收系统（7）、量子态相干探测系统、计算机综合分析系统（11），量子态制备系统包括量子源（1）、激光器（3）、第一50:50光束分数器（2）；量子态相干探测系统包括相移器（8）、两个虚拟光束分数器、第二50:50光束分数器（9）、光子数分辨探测器（12）；

量子源（1）产生福克态，激光器（3）产生飞秒超短脉本振光量子态，这两种激光量子态通过第一50:50光束分数器（2）干涉得到叠加相干态，叠加相干态是双模路径纠缠量子态，其中一个模式的量子态作为探测信号，另一个模式的量子态作为参考信号；探测信号由光学发射系统（4）发射出去并照射目标（6），探测信号在传播过程中产生的相移由相移器表征，探测信号由第一虚拟光束分数器（5）模拟光子数损耗；参考信号由第二虚拟光束分数器（10）模拟光子数损耗；回波信号由光学接收系统（7）接收，回波信号和参考信号在第二50:50光束分数器（9）处进行干涉，该干涉信号内携带目标的距离信息，该干涉信号由光子数分辨探测器（12）利用二值输出奇偶光子计数探测方法将光信号转换成二值输出电信号，该电信号由计算机综合分析系统（11）进行综合分析，给出目标的性能参数，性能参数包括距离信息、分辨率、灵敏度。

2.根据权利要求1所述的相干叠加态源超分辨率量子测距系统，其特征在于：所述的量子源（1）为福克态光源，激光器（3）为飞秒超短脉冲激光器。