[发明专利]一种检测编码器光源位置的检测装置及其方法在审
申请号: | 201911160209.3 | 申请日: | 2019-11-23 |
公开(公告)号: | CN110926516A | 公开(公告)日: | 2020-03-27 |
发明(设计)人: | 樊孝贺;艾华;张河叶 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01D18/00 | 分类号: | G01D18/00 |
代理公司: | 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙) 44316 | 代理人: | 曹卫良 |
地址: | 130033 吉林省长春*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 编码器 光源 位置 装置 及其 方法 | ||
1.一种检测编码器光源位置的检测装置,用于检测编码器的光源位置,其特征在于,包括支架及连接在所述支架上的靶标板和红外显示器,所述支架呈“凸”型,所述支架的中间呈中空结构,所述支架包括设置在所述支架的底面的安装板和设置在所述支架的顶面的固定板,将编码器的光源放置在所述编码器的轴套中,所述轴套连接在所述安装板上,所述靶标板连接在所述轴套的上端面,所述靶标板上设置有靶标图案,所述红外显示器连接在所述固定板上,所述红外显示器对准所述靶标图案;编码器的光源发射光束经过所述靶标图案成像于所述红外显示器,通过观察成像于所述红外显示器的光斑的位置,判断编码器的光源位置是否理想。
2.根据权利要求1所述的一种检测编码器光源位置的检测装置,其特征在于,所述靶标图案的方框的边缘设置为不透光区域,所述靶标图案的方框的内部和外部均设置为透光区域。
3.根据权利要求1所述的一种检测编码器光源位置的检测装置,其特征在于,所述红外显示器采用可对红外光进行成像显示的装置。
4.一种检测编码器光源位置的检测方法,其特征在于,包括如下步骤:
步骤S1、将编码器的轴套连接在支架的安装板上,将靶标板连接在所述轴套的上端面,将红外显示器连接在支架的固定板上,调整所述红外显示器,使所述红外显示器对准所述靶标板上的靶标图案;
步骤S2、再将需检测的编码器的光源放置在所述轴套上;
步骤S3、将所述支架处于暗室环境下;
步骤S4、所述光源发射光束经过所述靶标图案成像于所述红外显示器,通过观察成像于所述红外显示器的光斑的位置,判断编码器的光源位置是否理想;
步骤S5、将不符合使用要求的光源剔除。
5.根据权利要求4所述的一种检测编码器光源位置的检测方法,其特征在于,在步骤S1内,使所述靶标图案与现有技术中的光电接收器的大小相同。
6.根据权利要求5所述的一种检测编码器光源位置的检测方法,其特征在于,在步骤S2内,所述靶标图案与所述光源的距离与现有技术中光电接收器与光源的距离相同。
7.根据权利要求4所述的一种检测编码器光源位置的检测方法,其特征在于,在步骤S1内,所述红外显示器采用CCD相机。
8.根据权利要求4所述的一种检测编码器光源位置的检测方法,其特征在于,在步骤S1内,所述靶标图案的方框的边缘设置为不透光区域,所述靶标图案的方框的内部和外部均设置为透光区域。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,未经中国科学院长春光学精密机械与物理研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911160209.3/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。