[发明专利]一种用于测试LED芯片电极粘附性的装置及测试方法在审
申请号: | 201911164370.8 | 申请日: | 2019-11-25 |
公开(公告)号: | CN110854034A | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 余金隆;庄家铭 | 申请(专利权)人: | 佛山市国星半导体技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66;H01L33/62;G01N19/04 |
代理公司: | 广州三环专利商标代理有限公司 44202 | 代理人: | 胡枫;李素兰 |
地址: | 528200 广东省佛山市南海区狮*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 测试 led 芯片 电极 粘附 装置 方法 | ||
本发明公开了一种用于测试LED芯片电极粘附性的装置及测试方法,所述装置包括送线机构、焊线、劈刀和拉力检测组件;所述拉力检测组件包括线夹、治具、拉力计、以及与拉力计连接的拉钩,所述治具连接在线夹和拉钩上,所述焊线穿过送线机构和线夹,并通过送线机构和线夹固定在芯片电极上;所述劈刀将焊线焊接在芯片电极上,并将多余的焊线切断;所述拉钩拉住芯片两个电极之间的焊线,并通过拉力计测出电极拉力的大小。本发明的装置通过送线机构和劈刀将焊线固定在电极的同时,通过拉钩拉住电极之间的焊线,并通过拉力计来测试电极拉力的大小,操作简单,焊线和检测同时进行,效率高。
技术领域
本发明涉及发光二极管电极粘附性测试技术领域,尤其涉及一种用于测试 LED芯片电极粘附性的装置及测试方法。
背景技术
在发光二极管、中小型功率三极管、集成电路及一些特殊半导体器件等,需要进行导线的焊接,为了保证焊接的牢固性,需要通过拉力测试来抽样检测拉力大小。
参见图1和图2,图1和图2是现有芯片电极粘附性检测方法的示意图,现有的检测方法步骤如下:
一、将芯片放置在焊线机上,将导线尾端烧成球形,然后焊接在芯片的电极上(简称植球),其中,现有的检测方法采用的导线一般为金线或银线,植球的体积与电极的体积等大;
二、将焊接好的芯片放置在推力测试机上,拉力钩拉着导线,直到导线断裂,然后测试出其拉力值,之后观察电极是否被导线拉起来或者植球直接脱离电极。
现有的检测方法需要焊线机和推力测试机两种设备,并且需要在这两种设备上转换,较为费时。
发明内容
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种用于测试LED芯片电极粘附性的装置,结构简单,可同时完成焊线和测试。
本发明所要解决的技术问题在于,提供一种LED芯片电极粘附性的测试方法,操作简单,测试时间短。
为了解决上述技术问题,本发明提供了一种用于测试LED芯片电极粘附性的装置,包括送线机构、焊线、劈刀和拉力检测组件;
所述拉力检测组件包括线夹、治具、拉力计、以及与拉力计连接的拉钩,所述治具连接在线夹和拉钩上,所述焊线穿过送线机构和线夹,并通过送线机构和线夹固定在芯片电极上;
所述劈刀将焊线焊接在芯片电极上,并将多余的焊线切断;
所述拉钩拉住芯片两个电极之间的焊线,并通过拉力计测出电极拉力的大小。
作为上述方案的改进,所述焊线为铝线、铜线、铂线或钨线。
作为上述方案的改进,所述焊线的直径为1~5mil。
作为上述方案的改进,所述送线机构包括托架、设置在托架上的装线组件、导线组件和压线组件,所述导线组件包括导线圈、导线管、导线环和导线板,所述焊线装在装线组件内,且焊线依次经过导线圈、导线管、导线环和导线板后被线夹夹住,所述压线组件设置在导线管上,并使焊线紧固。
作为上述方案的改进,所述装线组件包括线盒座、线盒罩和线盒,所述线盒罩盖合在线盒座上以形成容纳腔,所述线盒设置在容纳腔内,所述焊线和导线圈设置在线盒内,所述导线管在容纳腔内并穿过线盒座和托架,所述焊线在容纳腔内依次经过导丝圈和导线管。
作为上述方案的改进,所述压线组件包括压线弹片、压线板或托线板,所述焊线穿过导线管后夹在托线板和压线板之间,所述压线弹片用于压住压线板。
相应地,本发明还提供了一种LED芯片电极粘附性的测试方法,采用本发明所述的用于测试LED芯片电极粘附性的装置对芯片进行测试。
作为上述方案的改进,包括以下步骤:
一、将芯片固定在装置的基板上;
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
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H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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