[发明专利]用于在开放式空中环境中并行测量被测设备的系统和方法

权利要求书

1.一种用于在开放式空中环境中并行测量被测设备(3，4)的系统(10)，所述系统(10)包括多个对准结构(1，2)，每个对准结构(1，2)包括：

成形的反射器(5，6)，所述成形的反射器(5，6)布置在所述对准结构(1，2)的顶端，和

天线(7，8)，所述天线(7，8)布置在所述成形的反射器(5，6)的聚焦区域处；

其中，所述被测设备(3，4)布置在所述多个对准结构(1，2)的底端，并且与对应的成形的反射器(5，6)相对，以及

其中，所述多个对准结构(1，2)彼此平行放置而无需屏蔽的壳体。

2.根据权利要求1所述的系统，

其中，所述系统(10)还包括测量单元(9)，所述测量单元(9)优选地连接到每个对准结构(1，2)的所述天线(7，8)。

3.根据权利要求2所述的系统，

其中，所述测量单元(9)用于针对每个对准结构(1，2)测量相似的性能特性，和/或

其中，所述测量单元(9)用于针对每个对准结构(1，2)测量不同的性能特性。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的系统，

其中，所述被测设备(3，4)被放置在所述多个对准结构(1，2)的所述底端的生产线上，优选地传送带上。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的系统，

其中，每个被测设备(3，4)作为定向天线操作，所述定向天线具有在120度的立体角内的主波束。

6.根据权利要求5所述的系统，

其中，所述测量单元(9)用于对利用在所述120度的立体角内的所述主波束操作的所述被测设备(3，4)同时执行测量。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的系统，

其中，所述多个对准结构(1，2)相对于测试平面水平布置，和/或

其中，所述多个对准结构(1，2)相对于所述测试平面竖直布置，和/或

其中，所述多个对准结构(1，2)相对于所述测试平面以倾斜位置布置。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的系统，

其中，所述多个对准结构(1，2)布置成极为靠近，优选地具有小于2米的分隔距离。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的系统，

其中，所述系统(10)还包括定位器(11)，所述定位器(11)用于使所述多个对准结构(1，2)的取向同时进行。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的系统，

其中，所述系统(10)还包括布置在所述多个对准结构(1，2)之间的屏蔽墙(21)，从而所述测量单元(9)用于对利用具有大于120度的立体角的所述主波束操作的所述被测设备(3，4)同时执行测量。

11.一种在系统(10)中用于在开放式空中环境中并行测量被测设备(3，4)的方法，所述系统(10)包括多个对准结构(1，2)，所述方法包括如下步骤：

将成形的反射器(5，6)布置(100)在所述对准结构(1，2)的顶端，

将天线(7，8)布置(101)在所述成形的反射器(5，6)的聚焦区域处，

将所述被测设备(3，4)布置(102)在所述多个对准结构(1，2)的底端并且与对应的成形的反射器(5，6)相对，以及

其中，所述多个对准结构(1，2)彼此平行放置而无需屏蔽的壳体。

12.根据权利要求11所述的方法，

其中，所述方法还包括针对每个对准结构(1，2)测量相似的性能特性的步骤，和/或

其中，所述方法还包括针对每个对准结构(1，2)测量不同的性能特性的步骤。