[发明专利]一种可提高讯杂比的光谱检测方法

权利要求书

1.一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，包括检测系统，检测系统包括LED发光源、收光系统、光源控制器、计算机；其中采用发光二极管LED作为发光源，此发光源包含两种以上的发光二极管，利用光源控制器可以将不同波长的发光二极管发光强度可分别调变，并根据待测物体的发射光谱调整发光二极管的发光强度，发光二极管的发光峰值波长间隔15nm以上；此发光源在进行光谱量测时可依波长分区发光，包含一收光系统，分别由光接收端收集不同波长发光源时所量测到的讯号，形成一完整的光谱；依照光谱讯号，将光谱讯号较弱处的光源强度做调整，得到一强度较均匀的新光谱，并以调整后之光源进行量测。

2.如权利要求1所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，所述的发光二极管，其发光波长在380-1500nm之间。

3.如权利要求2所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，所述的发光二极管，其发光方式为非连续形式。

4.如权利要求3所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，其非连续形式发光的讯号波形，为方波或正弦波或负弦波。

5.如权利要求4所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，所述的收光系统包含透镜、光谱仪或单点光传感器。

6.如权利要求5所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，所述的待测物体的发射光谱，为光谱仪或光传感器所接受的待测物体受激发后的发射光谱、反射光谱或漫射光谱。

7.如权利要求6所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，所述的根据待测物体的发射光谱调整发光二极管的发光强度，为增加或减少发光二极管驱动电流，或增加或改变发光二极管的发光脉冲数量。

8.如权利要求7所述的一种可提高讯杂比的光谱检测方法，其特征是，所述的光接收端为光谱仪或单点光传感器。