[发明专利]器件测试方法、装置及电子设备

说明书

本发明涉及器件测试方法、装置及电子设备。该方法包括：将所述测试电路通电，根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。

技术领域

本发明涉及器件测试技术领域，更具体地，涉及一种器件测试方法、一种器件测试装置、一种电子设备以及一种电路装置。

背景技术

在器件生产过程中，通常需要对器件的性能进行测试，以确定其是否满足要求。

在性能测试时，可以通过电流表测试器件的电流，根据电流大小确定器件是否合格。但是电流表价格较高，当待测器件数量很多时，为了提高工作效率，需要较多数量的电流表，因此成本较高。

因此，有必要提出一种新的器件性能测试的方案。

发明内容

本发明实施例的一个目的是提供一种器件性能测试的新的技术方案。

根据本发明的第一方面，提供了一种器件测试方法，所述器件与LED组件串联接入测试电路，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述方法包括：

将所述测试电路通电，根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。

可选地，所述多个LED具有不同的发光颜色；

根据所述LED组件中发光LED的电流规格，获得所述器件的测试结果，包括：

根据所述LED组件中发光LED的发光颜色，获得所述发光LED的电流规格；

根据所述电流规格，获得所述测试结果。

可选地，所述电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于所述正常电流范围的第二规格和高于所述正常电流范围的第三规格；

所述测试结果包括所述器件电流处于正常电流范围的第一结果、所述器件电流低于所述正常电流范围的第二结果和所述器件电流高于所述正常电流范围的第三结果。

可选地，所述LED组件为RGB三原色LED彩灯。

可选地，所述器件为TOF模组器件。

根据本发明的第二方面，还提供了一种器件测试装置，所述器件与LED组件串联接入测试电路，所述LED组件由具有不同电流规格的多个LED并联形成，所述装置包括：

电路控制模块，用于将所述测试电路通电；

结果获取模块，用于根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果。

可选地，所述多个LED具有不同的发光颜色；

根据所述LED组件中发光的LED的电流规格，获得所述器件的测试结果，包括：

根据所述LED组件中发光LED的发光颜色，获得所述发光的LED的电流规格；

根据所述电流规格，获得所述测试结果。

可选地，所述电流规格包括对应于器件正常电流范围的第一规格、低于所述正常电流范围的第二规格和高于所述正常电流范围的第三规格；

所述测试结果包括所述器件电流处于正常电流范围的第一结果、所述器件电流低于所述正常电流范围的第二结果和所述器件电流高于所述正常电流范围的第三结果。

根据本发明的第三方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器；

所述存储器用于存储可执行命令；

所述处理器用于在所述可执行命令的控制下，执行如本发明第一方面描述的方法。