[发明专利]一种触碰检测方法、设备、装置和计算机可读存储介质有效
申请号: | 201911169394.2 | 申请日: | 2019-11-26 |
公开(公告)号: | CN110850478B | 公开(公告)日: | 2022-05-31 |
发明(设计)人: | 陈思;吴玉锦 | 申请(专利权)人: | 出门问问创新科技有限公司 |
主分类号: | G01V3/00 | 分类号: | G01V3/00;G06F3/044 |
代理公司: | 北京乐知新创知识产权代理事务所(普通合伙) 11734 | 代理人: | 江宇 |
地址: | 210033 江苏省南京市*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 检测 方法 设备 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种触碰检测方法,其特征在于,应用于可携带设备中,所述方法包括:
每隔设定时间段对可变电容进行充放电;
获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长;
根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态;
所述可变电容在所述可携带设备处于非触碰状态时为第一电容,在所述可携带设备处于触碰状态时由所述第一电容转为第二电容;
所述可携带设备包括焊盘;
所述第一电容位于所述可携带设备中;
当导体靠近所述焊盘时,所述可携带设备处于触碰状态,所述导体与焊盘之间生成临时电容;
所述第二电容为所述第一电容与临时电容的叠加。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述触碰状态包括佩戴状态和针对触摸按键的触摸状态。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述每隔设定时间段对可变电容进行充放电;获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长,包括:
每隔设定时间段对所述第一电容或第二电容进行充放电;
获取所述第一电容或第二电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态,包括:
判断所述充电时长是否超过时长阈值;
若判定所述充电时长超过所述时长阈值,则确定所述可携带设备处于触碰状态。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在确定所述可携带设备处于触碰状态之后,所述方法还包括:
驱使所述可携带设备从非工作状态转为工作状态。
6.一种触碰检测设备,其特征在于,应用于可携带设备,所述设备包括:
充放电模块,用于每隔设定时间段对可变电容进行充放电;
时长获取模块,用于获取所述可变电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长;
检测模块,用于根据所获取的充电时长来确定所述可携带设备是否处于触碰状态;
所述可变电容在所述可携带设备处于非触碰状态时为第一电容,在所述可携带设备处于触碰状态时由所述第一电容转为第二电容;
所述可携带设备包括焊盘;
所述第一电容位于所述可携带设备中;
当导体靠近所述焊盘时,所述可携带设备处于触碰状态,所述导体与焊盘之间生成临时电容;
所述第二电容为所述第一电容与临时电容的叠加。
7.一种触碰检测装置,其特征在于,应用于可携带设备中,包括处理器、焊盘、电阻、半导体开关和电源;
所述焊盘位于所述可携带设备中的印刷电路板上,并与所述印刷电路板之间生成第一电容;
当导体靠近所述焊盘时,导体与所述焊盘之间生成临时电容,所述临时电容与第一电容叠加得到第二电容;
所述电源、电阻、焊盘依次串联;
所述半导体开关串联在所述焊盘和地线之间;
所述处理器中的GPIO管脚连接于所述半导体开关,用于每隔设定时间段驱使所述半导体开关闭合或者断开,以对所述第一电容或者第二电容进行充放电;
所述处理器中的TIM_CCR管脚连接于所述电阻和焊盘之间,用于获取所述第一电容或第二电容在充电状态下从基准电压到指定电压的充电时长,并根据所获取的充电时长来确定可携带设备是否处于触碰状态。
8.根据权利要求7所述的装置,其特征在于,所述装置还包括高压防护元件:
所述高压防护元件,连接于所述焊盘和地线之间,用于防止所述装置因在瞬时高压下而损坏。
9.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述存储介质包括一组计算机可执行指令,当所述指令被执行时用于执行权利要求1-5任一项所述的一种触碰检测方法。
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