[发明专利]一种老化板测试方法、电接头及老化板测试设备在审
| 申请号： | 201911171141.9 | 申请日： | 2019-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN110837034A | 公开（公告）日： | 2020-02-25 |
| 发明（设计）人： | 刘振辉;沈杰 | 申请（专利权）人： | 深圳市矽电半导体设备有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 518172 广东省深圳市龙岗区龙城街*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 老化 测试 方法 接头 设备 | ||
1.一种老化板测试方法，其特征在于：电连接部沿第一方向运动因止抵于止抵部而旋转，电连接部的导电电极沿旋转方向止抵于老化板的端口。
2.根据权利要求1所述的老化板测试方法，其特征在于：电连接部旋转连接于基体，所述基体连接于直线驱动部；所述直线驱动部通过基体带动电连接部沿第一方向运动。
3.根据权利要求2所述的老化板测试方法，其特征在于：所述电连接部包括旋转挡位，所述导电电极与旋转挡位呈L形结构连接；所述旋转挡位能够沿第一方向a止抵于止抵部。
4.根据权利要求3所述的老化板测试方法，其特征在于：电连接部的旋转连接位置位于旋转挡位与导电电极之间。
5.根据权利要求3所述的老化板测试方法，其特征在于：所述导电电极通过螺钉连接于旋转挡位。
6.根据权利要求1所述的老化板测试方法，其特征在于：止抵部为连接于承载台的挡部，所述第一方向平行于承载台放置老化板的平面。
7.根据权利要求6所述的老化板测试方法，其特征在于：所述挡部能够相对于承载台沿第一方向调节。
8.根据权利要求6所述的老化板测试方法，其特征在于：所述承载台连接有预设电极，使放置于承载台上的老化板两侧分别连接于预设电极和导电电极。
9.根据权利要求6所述的老化板测试方法，其特征在于：所述老化板真空吸附于承载台。
10.根据权利要求1所述的老化板测试方法，其特征在于：所述导电电极为弹性电极。
11.根据权利要求3所述的老化板测试方法，其特征在于：所述基体连接有限位块，所述旋转挡位远离挡部的一侧止抵于限位块，使旋转挡位限位于挡部和限位块之间。
12.根据权利要求11所述的老化板测试方法，其特征在于：所述旋转挡位与限位块之间设置有支撑弹簧。
13.一种电接头，用于电连接老化板，其特征在于：
导电电极转动连接于基体，所述导电电极能够相对于基体沿第二方向旋转；导电电极连接的旋转挡位能够沿第二方向运动并止抵于基体。
14.根据权利要求13所述的电接头，其特征在于：所述旋转挡位与基体之间连接有支撑弹簧。
15.根据权利要求14所述的电接头，其特征在于：所述基体连接于直线驱动部，所述直线驱动部能够驱动基体沿第一方向运动。
16.根据权利要求13所述的电接头，其特征在于：所述导电电极为弹性电极。
17.一种老化板测试设备，其特征在于：所述老化板测试设备包括如权利要求13-16任意一项所述的电接头。
18.根据权利要求17所述的老化板测试设备，其特征在于：所述老化板测试设备还包括承载台，所述直线驱动部安装于承载台。
19.根据权利要求18所述的老化板测试设备，其特征在于：所述承载台连接有挡部，所述挡部沿第一方向正对应旋转挡位；所述旋转挡位沿第一方向运动而止抵于挡部，使导电电极沿第二方向旋转而止抵于放置在承载台上的老化板。
20.根据权利要求19所述的老化板测试设备，其特征在于：所述挡部通过螺纹连接于承载台，所述挡部螺纹的进给方向平行于第一方向。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市矽电半导体设备有限公司，未经深圳市矽电半导体设备有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911171141.9/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
