[发明专利]高空间分辨率复合式电极交叉探测方法

权利要求书

1.一种高空间分辨率复合式电极交叉探测方法，其特征在于，包括：

步骤A、反演出非Z方向，至少两个不在同一直线上点电极矢量电阻率；

步骤B、水平环列点电极切面探测；

步骤C、垂向线列点电极滚动探测；

步骤D、多层复合式点电极延伸探测；

基于同一方向、垂向等间距分布的多个点电极，在垂向线列点电极探测的基础上，进行更大间距的温纳滚动测量；

步骤E、空间点电极定向探测；

基于三维高密度电阻率原位监测探针的空间排布形式，依次进行多个正交方向的垂向线列点电极滚动探测、多层复合式点电极延伸探测，获得具有三维立体空间分布规律的正交定向探测数据；

步骤F、空间电阻率交叉反演，通过上述复合式点电极交叉探测数据，对空间进行插值计算，获取完整的立体空间探测数据。

2.根据权利要求1所述的高空间分辨率复合式电极交叉探测方法，其特征在于，所述步骤B包括：基于同一水平切面、等间距、环形分布的多个正交点电极，通过激发相邻电极进行二极法的电阻率探测。

3.根据权利要求1所述的高空间分辨率复合式电极交叉探测方法，其特征在于，所述步骤C包括：基于同一方向、垂向等间距分布的多个点电极，激发四个相邻电极，采用温纳法自上向下依次进行滚动测量。

4.根据权利要求1所述的高空间分辨率复合式电极交叉探测方法，其特征在于，所述步骤F包括：

①求解过渡点位的电阻率大小

当ρ₁ρ₂，式中“±”取减号，反之，取加号；当ρ₃ρ₄，式中“±”取减号，反之，取加号；为第一过渡点电阻率，为第二过渡点电阻率，ρ₁、ρ₂、ρ₃及ρ₄均为已知点位；

②通过两个过渡点求得求解点位的电阻率

当式中“±”取减号，反之，取加号。