[发明专利]一种继电器与驱动芯片的检测器

说明书

本发明公开了一种继电器与驱动芯片的检测器，包括振荡模块、继电器插座、触点检测模块、驱动芯片插座、检测继电器、第一提示模块和第二提示模块；所述振荡模块与继电器插座、驱动芯片插座电性连接，所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号以触发安装于继电器插座处的待检测继电器工作和/或触发安装于驱动芯片插座处的待检测驱动芯片工作。本发明的继电器与驱动芯片的检测器既可以实现对继电器性能以及驱动芯片性能的独立检测，也可以实现对继电器和驱动芯片的并行检测；且对驱动芯片实现的是动态检测而非静态检测，方便用户检测继电器和/或驱动芯片的实际性能。

技术领域

本发明涉及检测技术领域，尤其涉及一种继电器与驱动芯片的检测器。

背景技术

继电器和驱动芯片是常见的一种元器件，测试设备使用的继电器要求响应速度快，触点接触电阻小(0.3欧以内)。继电器老化和驱动芯片负载性能变差是导致测试设备不稳定的最主要因素。

目前的有公开如下方案：申请号为CN201510525411.7的方案，其公开了继电器动作时间检测电路及检测方法，由于可编程逻辑器件中同时包括检测继电器常开或常闭触点动作电平状态变化的程序和记录时间长度的程序，当检测到继电器触点从一种电平状态变化到另一种电平状态时，就终止记录时间，由于可编程逻辑器件具有工作模式可以并行和工作频率高的特点，单位时间可达到纳秒级别，可以将检测时间可以精确到纳秒级别。

申请号为CN201620950355.1的方案，其公开了一种继电器耐久性测试装备，通过判断继电器线圈端加载次数和继电器负载触点动作次数来对继电器的耐久性进行检测。

申请号为CN200820157147.1的方案，其公开了继电器自动测试装置，其实现了多个继电器并行加载依次测试，能够检测继电器控制线圈是否失效及常开、常闭触点的开关是否正常工作。

由上可知，目前更多的是针对于继电器的触点检测和耐久性检测，并没有涉及到驱动芯片驱动负载的能力的检测；因此，如何设计一种能够方便、快速、准确的检测继电器和驱动芯片实际负载驱动性能的检测装置成为本领域技术人员亟待解决的技术问题。

发明内容

为了克服现有技术的不足，本发明的目的在于提供一种继电器与驱动芯片的检测器，其能实现对继电器以及驱动芯片性能的检测。

本发明的目的采用如下技术方案实现：

一种继电器与驱动芯片的检测器，包括振荡模块、继电器插座、触点检测模块、驱动芯片插座、检测继电器、第一提示模块和第二提示模块；

所述振荡模块与继电器插座、驱动芯片插座电性连接，所述振荡模块用于产生周期性的脉冲信号以触发安装于继电器插座处的待检测继电器工作和/或触发安装于驱动芯片插座处的待检测驱动芯片工作；

所述驱动芯片插座与检测继电器电性连接，所述继电器插座与触点检测模块电性连接；所述触点检测模块用于检测待检测继电器的触点电压，并根据检测到的触点电压与预设电压比较；所述第一提示模块用于提示用户待检测继电器是否存在异常，所述第二提示模块用于提示用户待检测驱动芯片是否存在异常。

进一步地，还包括供电模块和电压切换模块，所述供电模块用于给待检测继电器、触点检测模块以及振荡模块供电；所述电压切换模块用于切换供电模块对待检测继电器的供电电压。

进一步地，所述振荡模块为NE555时基集成电路。