[发明专利]主板的边界扫描和功能测试方法及装置

说明书

本发明提供一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，应用于机台，所述方法包括以下步骤：将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。本发明的一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，用于将边界扫描测试与功能测试结合到一个机台，方便同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，加快测试速度，减少机台数量。

技术领域

本发明涉及主板测试技术领域，特别是涉及一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置。

背景技术

在传统服务器/桌面机/工作站往往对于主板的测试分为边界扫描测试(BSI)和功能测试(FCT)，往往分别对主板进行边界扫描测试(BSI：Boundary Scan Inspect(边界扫描(Boundary Scan)测试发展于上个世纪90年代，随着大规模集成电路的出现，印制电路板制造工艺向小，微，薄发展，传统的ICT测试已经没有办法满足这类产品的测试要求。由于芯片的引脚多，元器件体积小，板的密度特别大，根本没有办法进行下探针测试。边界扫描测试有两大优点：一个是方便芯片的故障定位，迅速准确地测试两个芯片管脚的连接是否可靠，提高测试检验效率；另一个是，具有JTAG接口的芯片，内置一些预先定义好的功能模式，通过边界扫描通道来使芯片处于某个特定的功能模式，以提高系统控制的灵活性和方便系统设计。))和功能测试(FCT：Functional Circuit Test，功能测试依据控制模式的不同，可以分为手动控制功能测试、半自动控制功能测试、全自动控制功能测试。最早的功能测试，主要以手动和半自动方式为主。对于一些简单的被测板的功能测试，基于简化设计和减少制作成本考虑，我们有时还是会采用手动或者半自动的测试方案。随着科技的发展，为了节约生产成本，现在的功能测试绝大多数都是使用全自动的方案。另一种更普遍的分类是依据功能测试的控制器类型来分。在功能测试中，我们通常用的控制方式有MCU控制方式、嵌入式CPU控制方式、PC控制方式、PLC控制方式等。)

然而进行边界扫描测试需要制作专业的自动测试机台，价格不菲。

进行功能测试的功能测试FCT站仍然存在，同样也需要价格不菲的自动测试机台。但是这2个自动机台功能有重合之处，目前各自单独存在的方式使机台成本增加。且分别进行边界扫描测试和功能测试需要分别到扫描测试机台和功能测试机台进行测试，额外浪费了时间和人力。

因此，希望能够解决如何同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，如何加快测试速度，如何减少机台数量的问题。

发明内容

鉴于以上所述现有技术的缺点，本发明的目的在于提供一种主板的边界扫描和功能测试方法及装置，用于解决现有技术中如何同时对主板进行边界扫描测试与功能测试，如何加快测试速度，如何减少机台数量的问题。

为实现上述目的及其他相关目的，本发明提供一种主板的边界扫描和功能测试方法，包括以下步骤：将边界扫描测试治具与主板连接，将功能测试治具与所述主板连接，将硬盘与所述主板连接，将上位机与所述主板通信连接；通过所述上位机基于所述边界扫描测试治具对所述主板进行边界扫描测试；通过安装在所述硬盘的功能测试系统基于所述功能测试治具对所述主板进行功能测试。

于本发明的一实施例中，所述主板包括：中央处理器和平台控制器；主板扩展插槽边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；USB边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具与所述平台控制器连接；双列直插式存储模块边界扫描测试治具与所述中央处理器连接；所述上位机基于所述主板扩展插槽边界扫描测试治具、USB边界扫描测试治具、串行硬件驱动器接口边界扫描测试治具和双列直插式存储模块边界扫描测试治具分别对所述主板进行主板扩展插槽边界扫描测试、USB边界扫描测试、串行硬件驱动器接口边界扫描测试和双列直插式存储模块边界扫描测试。