[发明专利]显示面板的测试电路及OLED显示器

权利要求书

1.一种显示面板的测试电路，所述显示面板包括多个阵列排布的像素结构，每一所述像素结构包括四个呈矩形阵列排布的像素单元，每一所述像素单元包括一R子像素、G子像素以及B子像素，其中每一列子像素包括两种子像素或一种子像素；其特征在于，所述测试电路包括：

三条输入数据信号线，所述三条输入数据信号线包括R数据信号线、G数据信号线以及B数据信号线；

三条控制电压信号线，所述控制电压信号线包括R控制电压信号线、G控制电压信号线以及B控制电压信号线；

多个测试单元，每一所述测试单元包括六个选通模块，所述六个选通模块的输出端与所述像素结构的6列子像素分别连接，其中，每一所述选通模块的输出端与一列子像素中的各个子像素分别连接；每一所述选通模块的输入端分别对应列的子像素所对应的一条数据信号线或两条数据信号线连接；每一所述选通模块的控制端分别对应列的子像素所对应的一条控制电压信号线或两条控制电压信号线连接。

2.根据权利要求1所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述六个选通模块包括：

第一选通模块，其包括第一开关管以及第二开关管，所述第一开关管的输出端与所述第二开关管的输出端连接且与一列像素结构中的第一列子像素连接，所述第一开关管输入端与所述G数据信号线连接，所述第二开关管的输入端与所述B数据信号线连接，所述第一开关管的控制端与所述G控制电压信号线连接，所述第二开关管的控制端与所述B控制电压信号线连接；

第二选通模块，其包括第三开关管，所述第三开关管的输入端与所述G数据信号线连接，所述第三开关管的输出端与一列像素结构中的第二列子像素连接。

3.根据权利要求2所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述六个选通模块还包括：

第三选通模块，其包括第四开关管以及第五开关管，所述第四开关管的输出端与所述第五开关管的输出端连接且与一列像素结构中的第三列子像素连接，所述第四开关管输入端与所述B数据信号线连接，所述第五开关管的输入端与所述R数据信号线连接，所述第四开关管的控制端与所述B控制电压信号线连接，所述第五开关管的控制端与所述R控制电压信号线连接；

第四选通模块，其包括第六开关管以及第七开关管，所述第六开关管的输出端与所述第七开关管的输出端连接且与一列像素结构中的第四列子像素连接，所述第六开关管输入端与所述B数据信号线连接，所述第七开关管的输入端与所述R数据信号线连接，所述第六开关管的控制端与所述B控制电压信号线连接，所述第七开关管的控制端与所述R控制电压信号线连接。

4.根据权利要求3所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述六个选通模块还包括：

第五选通模块，其包括第八开关管，所述第八开关管的输入端与所述G数据信号线连接，所述第八开关管的输出端与一列像素结构中的第五列子像素连接；

第六选通模块，其包括第九开关管以及第十开关管，所述第九开关管的输出端与所述第十开关管的输出端连接且与一列像素结构中的第六列子像素连接，所述第九开关管输入端与所述B数据信号线连接，所述第十开关管的输入端与所述R数据信号线连接，所述第九开关管的控制端与所述B控制电压信号线连接，所述第十开关管的控制端与所述R控制电压信号线连接。

5.根据权利要求4所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述G控制电压信号线传输的电压为低电平信号，使得所述第二选通模块以及所述第五选通模块处于导通状态。

6.根据权利要求4所述的显示面板的测试电路，其特征在于，与同一所述R控制电压信号线或同一所述B控制电压信号线连接的开关管的导通状态相同，所述R控制电压信号线连接的开关管的导通状态与所述B控制电压信号线连接的开关管的导通状态相反。

7.根据权利要求4所述的显示面板的测试电路，其特征在于，所述第一开关管、第二开关管、第三开关管、第四开关管、第五开关管、第六开关管、第七开关管、第八开关管、第九开关管、第十开关管均为场效应薄膜晶体管。