[发明专利]用于测量接触电阻的差动电容式探测器和方法有效

专利信息
申请号: 201911179320.7 申请日: 2019-11-27
公开(公告)号: CN111239490B 公开(公告)日: 2023-08-29
发明(设计)人: S·霍斯拉瓦尼 申请(专利权)人: 波音公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 王青芝;王小东
地址: 美国伊*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 用于 测量 接触 电阻 差动 电容 探测器 方法
【权利要求书】:

1.一种用于测量接触电阻的差动电容式探测器(100),所述差动电容式探测器(100)包括:

框架(101);

端部执行器(102),其从所述框架(101)延伸;

第一电容式盘(103),其联接到所述框架(101),以便至少部分地围绕所述端部执行器(102);以及

第二电容式盘(104),其联接到所述框架(101),以便相对于所述端部执行器(102)与所述第一电容式盘(103)径向间隔开,并至少部分地围绕所述端部执行器(102);

其中,所述第一电容式盘(103)的接触表面积(103S)与所述第二电容式盘(104)的另一接触表面积(104S)大致相同。

2.根据权利要求1所述的差动电容式探测器(100),其中,所述第一电容式盘(103)和所述第二电容式盘(104)被配置为遵循纤维增强材料(105)的表面(105S)。

3.根据权利要求2所述的差动电容式探测器(100),其中,所述端部执行器(102)被配置为插入至少部分地延伸穿过所述纤维增强材料(105)的紧固件孔(106)中,以便将导电间隙填充物(112)分配到所述紧固件孔(106)中。

4.根据权利要求3所述的差动电容式探测器(100),其中,所述端部执行器(102)被配置为分配低熔点合金(600)形式的所述导电间隙填充物(112)。

5.根据权利要求3或4所述的差动电容式探测器(100),其中:

所述端部执行器(102)包括交流电源(107),该交流电源(107)产生电流(170),该电流流过所述纤维增强材料(105);并且

所述第一电容式盘(103)和所述第二电容式盘(104)被配置为接收所述电流(170),其中,所述第一电容式盘(103)与所述第二电容式盘(104)之间的间隔(113)实现与所述端部执行器(102)和所述纤维增强材料(105)之间的接触大致隔离的原位接触电阻测量。

6.根据权利要求2所述的差动电容式探测器(100),其中,所述端部执行器(102)、所述第一电容式盘(103)和所述第二电容式盘(104)形成电路(800、801),该电路被配置为从紧固件(111)与所述纤维增强材料(105)之间的测得的接触电阻中大致消除所述纤维增强材料(105)的纤维电阻。

7.根据权利要求1或2所述的差动电容式探测器(100),所述差动电容式探测器(100)还包括:

交流电源(107),其联接到所述端部执行器(102);以及

控制器(108),其被配置为启用所述交流电源(107),并从所述第一电容式盘(103)和所述第二电容式盘(104)中的每一者接收电压读数。

8.根据权利要求7所述的差动电容式探测器(100),其中,所述控制器(108)被配置为确定所述端部执行器(102)以及与所述端部执行器(102)联接的紧固件(111)中的一者与纤维增强材料(105)之间的接触电阻,该纤维增强材料(105)将所述端部执行器(102)联接到所述第一电容式盘(103)和所述第二电容式盘(104)中的每一者。

9.根据权利要求7所述的差动电容式探测器(100),所述差动电容式探测器(100)还包括:

显示器(109),其联接到所述控制器(108);并且

其中,所述控制器(108)被配置为将所测得的接触电阻与预定接触电阻进行比较,并通过所述显示器(109)提供关于所测得的接触电阻是否在所述预定接触电阻的预定范围内的指示。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于波音公司,未经波音公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911179320.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top