[发明专利]用于校准用于通过增材制造来生产物体的设备的方法以及用于该方法的设备有效
申请号: | 201911179812.6 | 申请日: | 2019-11-26 |
公开(公告)号: | CN111216364B | 公开(公告)日: | 2022-11-29 |
发明(设计)人: | 马克·赫尔曼·埃尔斯·维斯;罗伯·彼得·艾伯特·万亨德尔;欧文·维基恩 | 申请(专利权)人: | 添加剂工业有限公司 |
主分类号: | B29C64/393 | 分类号: | B29C64/393;B29C64/268;B22F3/105;B33Y30/00;B33Y50/02 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 张澜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 校准 通过 制造 生产 物体 设备 方法 以及 | ||
1.一种用于校准用于通过增材制造生产物体的设备的方法,其中所述设备包括:
-处理室,所述处理室用于接纳材料浴,所述材料浴能够通过暴露于电磁辐射而被固化;
-支撑件,所述支撑件用于相对于所述材料浴的表面水平定位所述物体;以及
-固化装置,所述固化装置用于通过电磁辐射在所述表面水平上固化所述材料的选择性层部分;
其中所述方法包括:
在所述支撑件上或所述支撑件附近设置面向所述固化装置的校准标记的步骤;以及
提供具有成像装置的校准系统的步骤,所述成像装置能够指向所述支撑件,其中所述成像装置被布置成使得所述成像装置的光学路径在所述设备的使用中与所述固化装置的电磁辐射的光学路径至少部分地重合;以及
其中所述方法还包括以下步骤:
a)利用所述成像装置确定所述校准标记的位置的测量值;
b)控制所述固化装置以形成与所述校准标记相关的固化标记;
c)利用所述成像装置确定所述固化标记的位置的测量值;
d)基于所述校准标记和与所述校准标记相关的所述固化标记两者的位置,利用所述校准系统确定至少一个校正矢量,
其中,确定所述校准标记的位置的测量值的步骤包括:
-确定所述校准标记的预期位置;
-基于所述预期位置控制所述设备并确定产生的设定位置。
2.根据权利要求1所述的方法,还包括:
确定校准标记差矢量的步骤,所述校准标记差矢量被定义为所述校准标记的预期位置与产生的设定位置之间的差。
3.根据权利要求2所述的方法,其中,确定所述固化标记的位置的测量值的步骤包括:
-确定所述校准标记的预期位置;
-基于所述预期位置控制所述设备并确定产生的设定位置。
4.根据权利要求3所述的方法,其中,所述方法还包括:
确定固化标记差矢量的步骤,所述固化标记差矢量被定义为所述固化标记与所述产生的设定位置之间的差。
5.根据前述权利要求中任一项所述的方法,其中,用于通过增材制造生产物体的所述设备包括另一固化装置,并且其中所述方法包括以下另外的步骤:
-控制所述另一固化装置以形成与所述校准标记相关的另一固化标记;
-利用所述校准系统确定所述另一固化标记的位置的测量值;
-基于所述校准标记和与所述校准标记相关的所述另一固化标记两者的位置,利用所述校准系统确定至少另一校正矢量。
6.根据权利要求5所述的方法,其中,所述校准系统包括至少另一成像装置,其中所述至少另一成像装置被用于获得所述校准标记和/或所述另一固化标记的图像。
7.根据权利要求6所述的方法,其中,所述另一成像装置被布置成使得所述另一成像装置的光学路径在所述设备的使用中与所述另一固化装置的电磁辐射的光学路径至少部分地重合。
8.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其中,至少一个另一校准标记被设置,并且所述方法的至少一部分针对所述至少一个另一校准标记被重复至少一次。
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