[发明专利]检测装置在审
申请号: | 201911182639.5 | 申请日: | 2019-11-27 |
公开(公告)号: | CN111259725A | 公开(公告)日: | 2020-06-09 |
发明(设计)人: | 上原利范 | 申请(专利权)人: | 株式会社日本显示器 |
主分类号: | G06K9/00 | 分类号: | G06K9/00;G06F3/044 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 马强 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 | ||
1.一种检测装置,其特征在于,具备:
多个检测电极;
检测电路,与所述检测电极连接并检测与所述检测电极的电容的变化相应的检测信号;以及
连接电路,使所述检测电极和所述检测电路连接或断开,其中,
所述检测装置具有所述检测电极的多个选择形式,所述选择形式使所述多个检测电极中的第一选择对象的检测电极为与所述检测电路连接的连接状态,并使不包含于所述第一选择对象的第二选择对象的检测电极为不与所述检测电路连接的断开状态,
多个所述选择形式不包含使所述第一选择对象的检测电极为所述断开状态,并使所述第二选择对象的检测电极为所述连接状态的选择形式。
2.根据权利要求1所述的检测装置,其中,
所述连接电路具有第一模式和与所述第一模式不同的第二模式,
在所述第一模式下,所述连接电路仅实施第一选择形式和第二选择形式中的任意一方,所述第一选择形式使所述第一选择对象为所述连接状态并使所述第二选择对象为所述断开状态,所述第二选择形式使所述第一选择形式的所述第一选择对象为所述断开状态,并使所述第一选择形式的所述第二选择对象为所述连接状态,
在所述第二模式下,所述连接电路实施所述第一选择形式和所述第二选择形式双方。
3.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,
所述检测电极分别沿第一方向和与所述第一方向交叉的第二方向并列排列。
4.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,所述检测装置进一步具备:
驱动电极,配置于与所述检测电极相邻的位置;以及
驱动信号生成电路,与所述驱动电极连接并将驱动信号提供给发送用导电体。
5.根据权利要求4所述的检测装置,其中,
所述多个检测电极设于绝缘性基板的一面,
从所述一面的所述发送用导电体的高度比从所述一面的所述检测电极的高度高。
6.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,所述检测装置进一步具备:
驱动电极,以非接触的状态与所述多个检测电极相对;以及
驱动信号生成电路,与所述驱动电极连接并将驱动信号提供给所述驱动电极。
7.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,所述检测装置进一步具备:
驱动信号生成电路,与所述检测电极连接并将驱动信号提供给所述检测电极。
8.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,
所述连接电路基于哈达玛矩阵的正负的码来确定所述选择形式。
9.根据权利要求1或2所述的检测装置,其中,所述检测装置具备:
运算电路,从使一个所述选择形式的信号强度为2倍而得到的2倍信号中减去使所述多个检测电极全部为所述第一选择对象的减法用信号。
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