[发明专利]一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置

说明书

本申请公开了一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。所述方法包括以下步骤：将电场传感器布置在第1个测试点；向所述电场传感器输入测试信号，直到所述电场传感器显示场强等于指定场强；保持所述信号频率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。所述装置包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板。本申请实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。

技术领域

本申请涉及辐射敏感度试验领域，尤其涉及一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。

背景技术

为了使得辐射敏感度试验结果更准确可靠，分析试验结果的影响因素，包括试验设备、试验配置、场分布等，其中试验区域内的场均匀域会对辐射敏感度试验结果产生较大的影响。现行的辐射敏感度试验有GB17626.3-2016和GJB151-2013B标准中给出的方法，试验方法中仅对试验场地中有关屏蔽室和射频吸波材料敷设和吸波材料性能的部分提出了要求，但影响试验场区域内均匀域的因素有许多，如暗室的大小与形状、暗室内金属接地平台的大小与高度、接地平台在暗室内的位置、金属接地带连接方式、吸波材料类型、尺寸和敷设方式等，都会对均匀域产生影响。同时，此种方法只能对试验场的均匀域是否均匀给出评价结论，无法通过试验测量出一符合均匀域要求的辐射敏感度试验场。

因此，对于辐射敏感度试验，急需解决的问题就是：如何在最大程度降低诸多因素对试验区域内场均匀域的影响，并通过试验测量出符合均匀域要求的辐射敏感度试验场，提高辐射敏感度试验的准确性和一致性。

发明内容

为实现准确测量和确定符合均匀域要求的辐射敏感度试验场，本申请提出辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置。

本申请实施例提供一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，包括以下步骤：

将电场传感器布置在第1个测试点；

向所述电场传感器输入测试信号，调整所述信号输出功率，直到所述电场传感器显示的场强等于指定场强；

保持所述信号频率和所述功率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；

计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；

调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。

作为本申请进一步优化的实施例，还包括以下步骤：

确定所述均匀域为一垂直平面区域，所述N个测试点均匀分布在所述平面区域上。

作为本申请进一步优化的实施例，还包括以下步骤：

判断所述信号频率范围；

当所述信号频率大于等于10kHz且小于30MHz时，在垂直极化方向上测试；

当所述信号频率大于等于30MHz时，在水平极化和垂直极化两个方向上测试，在水平极化和垂直极化上都满足所述差值小于或等于指定差值的条件。

作为本申请进一步优化的实施例，还包括以下步骤：

改变所述输入测试信号频率。

作为本申请进一步优化的实施例，所述指定差值为±3dB。

作为本申请进一步优化的实施例，所述调整为扩大或缩小。

本申请实施例还提供一种辐射敏感度试验场均匀域测量装置，用于本申请任意一项实施例所述方法，包括信号源、功率放大器、天线、电场感应单元、金属接地平板；