[发明专利]一种滞回信号检测电路

说明书

本发明公开了一种滞回信号检测电路，包括：第一MOS管、第二MOS管、反相器INV1、反相器INV2和反相器INV3，第一MOS管的栅极连接输入端，第一MOS管的漏极依次通过反相器INV1、反相器INV2、反相器INV3与输出端相连；第一MOS管的源极与第二MOS管的漏极相连，第二MOS管的栅极连接在反相器INV1与反相器INV2之间；第二MOS管的源极和漏极之间连接有电阻R1。本发明不仅滞回电压可以通过电流及电阻值进行调整，较为灵活，而且滞回电压不会随电源电压变化而变化。

技术领域

本发明涉及逻辑信号检测技术领域，更具体的说是涉及一种滞回信号检测电路。

背景技术

检测电路用于芯片输入电压信号的检测，传统的带滞回的逻辑信号检测电路如图1所示，检测电路的滞回电压不能灵活调整，且上下限电压及滞回电压都会随电源电压变化而变化。

因此，如何提供一种滞回电压可灵活调整的滞回信号检测电路成为了本领域技术人员亟需解决的问题。

发明内容

有鉴于此，本发明提供了一种滞回信号检测电路，不仅滞回电压可以通过电流及电阻值进行调整，较为灵活，而且滞回电压不会随电源电压变化而变化。

为了实现上述目的，本发明采用如下技术方案：

一种滞回信号检测电路，包括：第一MOS管、第二MOS管、反相器INV1、反相器INV2和反相器INV3，其中，所述第一MOS管的栅极连接输入端，所述第一MOS管的漏极依次通过所述反相器INV1、所述反相器INV2、所述反相器INV3与输出端相连；所述第一MOS管的源极与所述第二MOS管的漏极相连，所述第二MOS管的栅极连接在所述反相器INV1与所述反相器INV2之间；所述第二MOS管的源极和漏极之间连接有电阻R1。

优选的，所述反相器INV1、反相器INV2和反相器INV3的一端连接电源VDD，另一端连接电源VSS。

优选的，所述第一MOS管与输入端之间设置有电阻R2。

优选的，所述第一MOS管采用N型MOS管M1，所述第二MOS管采用N型MOS管M2。

优选的，所述N型MOS管M1的栅极连接输入端，所述N型MOS管M1的漏极分别与所述反相器INV1、电源VDD相连，所述反相器INV1依次通过所述反相器INV2、所述反相器INV3与输出端相连；所述N型MOS管M1的源极与所述N型MOS管M2的漏极相连，所述N型MOS管M2的栅极连接在所述反相器INV1与所述反相器INV2之间，所述N型MOS管M2的源极连接电源VSS；所述N型MOS管M2的源极和漏极之间连接有电阻R1。

优选的，所述第一MOS管采用P型MOS管M3，所述第二MOS管采用P型MOS管M4。

优选的，所述P型MOS管M3的栅极连接输入端，所述P型MOS管M3的漏极分别与所述反相器INV1、电源VSS相连，所述反相器INV1依次通过所述反相器INV2、所述反相器INV3与输出端相连；所述P型MOS管M3的源极与所述P型MOS管M4的漏极相连，所述P型MOS管M4的栅极连接在所述反相器INV1与所述反相器INV2之间，所述P型MOS管M4的源极连接电源VDD；所述P型MOS管M4的源极和漏极之间连接有电阻R1。

本发明的有益效果在于：

本发明电路简单，易于实现，可以用于芯片输入电压信号的检测，在检测电路中加入滞回，可以有效的去除输入信号中噪声抖动，引起的输出信号的毛刺。另外，本发明的滞回电压可以通过电流及电阻值进行调整，较为灵活，滞回电压不会随电源电压变化而变化。

附图说明