[发明专利]光电探测器电路系统和光电探测方法

权利要求书

1.一种光电探测器电路系统，其特征在于，包括：

包括第一平衡探测器的平衡探测模块，用于对所获取的待检测干涉光信号进行处理，以生成检测信号；和

锁相放大模块，包括锁相环和锁相放大器，所述锁相环用于对所述检测信号进行跟踪处理，以生成跟踪所述检测信号频率变化的参考信号，所述锁相放大器用于基于所述参考信号对所述检测信号进行处理，以从所述检测信号中提取与所述参考信号相同频率相同相位的目的信号。

2.根据权利要求1所述的电路系统，其中，所述锁相放大器包括相敏检测器，用于基于所述参考信号对所述检测信号进行处理，以从所述检测信号中提取与所述参考信号相同频率相同相位的目的信号。

3.根据权利要求1所述的电路系统，其中，所述锁相放大器包括鉴相器，用于基于所述参考信号对所述检测信号进行处理，以从所述检测信号中提取与所述参考信号相同频率相同相位的目的信号。

4.根据权利要求2或3所述的电路系统，其中，所述锁相放大器进一步包括低通滤波器，用于对所述目标信号进行处理，以滤除所述目标信号中高于截止频率的信号和允许所述目标信息中低于截止频率的信号通过。

5.根据权利要求4所述的电路系统，其中，所述锁相放大模块进一步包括带通滤波器，用于在所述检测信号进入所述锁相放大器之前滤除所述检测信号中的噪声。

6.根据权利要求1所述的电路系统，其中，所述平衡探测模块进一步包括第二平衡探测器和差分放大器；

所述第一平衡探测器，用于基于平衡探测技术对所述待检测干涉光信号中的第一干涉光信号进行处理，以生成第一检测信号；

所述第二平衡探测器，用于基于平衡探测技术对所述待检测干涉光信号中的第二干涉光信号进行处理，以生成第二检测信号；以及

所述差分放大器，用于对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行处理，以抑制所述第一检测信号和所述第二检测信号之间的共模噪声，以生成所述检测信号。

7.根据权利要求6所述的电路系统，其中，所述差分放大器被实施为基于型号为AD8000的电流反馈型放大器搭建而成的差分放大器。

8.一种光电探测方法，其特征在于，包括：

通过包括第一平衡探测器的平衡探测模块，对所获取的待检测干涉光信号进行处理，以生成检测信号；

通过锁相环对所述检测信号进行跟踪处理，以生成跟踪所述检测信号频率变化的参考信号；以及

通过锁相放大器基于所述参考信号对所述检测信号进行处理，以从所述检测信号中提取与所述参考信号相同频率相同相位的目的信号。

9.根据权利要求8所述的光电探测方法，其中，通过包括第一平衡探测器的平衡探测模块，对获取的待检测干涉光信号进行处理，以生成检测信号，包括：

通过所述第一平衡探测器，基于平衡探测技术对所述待检测干涉光信号中的第一干涉光信号进行处理，以生成第一检测信号；

通过第二平衡探测器，基于平衡探测技术对所述待检测干涉光信号中的第二干涉光信号进行处理，以生成第二检测信号；以及

通过差分放大器，对所述第一检测信号和所述第二检测信号进行处理，以抑制所述第一检测信号和所述第二检测信号之间的共模噪声，以生成所述检测信号。

10.根据权利要求9所述的光电探测器，其中，所述锁相放大器，包括鉴相器或相敏检测器。