[发明专利]一种8K测试信号生成装置、方法、存储介质和设备

权利要求书

1.一种8K测试信号生成装置，其特征在于，包括信号存储模块、信号选择模块和信号发生模块；

所述信号存储模块，用于预先存储多个8K测试信号文件；

所述信号选择模块，用于根据输入的信号参数从8K信号表中选择对应的8K测试信号文件名，并将所述8K测试信号文件名发送至所述信号发生模块；

所述信号发生模块，用于从所述信号存储模块中获取所述8K测试信号文件名对应的8K测试信号文件，并将该信号文件输出。

2.根据权利要求1所述的8K测试信号生成装置，其特征在于，所述信号参数包括信号类型、信号分辨率和信号名称；

所述信号选择模块包括信号类型选择单元、信号分辨率选择单元和信号名称选择单元；

所述信号类型选择单元，用于根据所述信号参数中的信号类型，从所述8K信号表中选择相应信号类型的8K测试信号文件，得到第一8K测试信号文件名列表；

所述信号分辨率选择单元，用于根据所述信号参数中的信号分辨率，从所述第一8K测试信号文件名列表中选择相应信号分辨率的8K测试信号文件，得到第二8K测试信号文件名列表；

所述信号名称选择单元，用于根据所述信号参数中的信号名称，从所述第二8K测试信号文件名列表中选择相应信号名称的8K测试信号文件，得到8K测试信号文件名，并将所述8K测试信号文件名发送至所述信号发生模块。

3.根据权利要求1所述的8K测试信号生成装置，其特征在于，所述信号发生模块包括参数设置单元和信号发生单元；

所述参数设置单元，用于设置8K测试信号的输出模式是SQD模式或SI模式；

所述信号发生单元，用于根据所述8K测试信号文件名将所述8K测试信号文件从所述信号存储模块分块循环读取到内存中，然后从内存输出，并按照所述参数设置单元设置模式输出8K测试信号；

所述信号发生单元，还用于暂停或停止所述8K测试信号的输出。

4.根据权利要求2或3所述的8K测试信号生成装置，其特征在于，所述信号类型包括静态信号类型和动态信号类型。

5.根据权利要求2或3所述的8K测试信号生成装置，其特征在于，所述信号分辨率包括7680x4320p25、7680x4320p30、7680x4320p50和7680x4320p60。

6.一种8K测试信号生成方法，其特征在于，包括以下步骤：

预先存储多个8K测试信号文件；

根据输入的信号参数从8K信号表中选择对应的8K测试信号文件名，并将所述8K测试信号文件名发送至所述信号发生模块；

从所述多个8K测试信号文件中获取所述8K测试信号文件名对应的8K测试信号文件，并将该8K测试信号输出。

7.根据权利要求6所述的8K测试信号生成方法，其特征在于，所述根据输入的信号参数从8K信号表中选择对应的8K测试信号文件名，并将所述8K测试信号文件名发送至所述信号发生模块，具体包括：

所述信号参数包括信号类型、信号分辨率和信号名称；

根据所述信号参数中的信号类型，从所述8K信号表中选择相应信号类型的8K测试信号文件，得到第一8K测试信号文件名列表；

根据所述信号参数中的信号分辨率，从所述第一8K测试信号文件名列表中选择相应信号分辨率的8K测试信号文件，得到第二8K测试信号文件名列表；

根据所述信号参数中的信号名称，从所述第二8K测试信号文件名列表中选择相应信号名称的8K测试信号文件，得到8K测试信号文件名。

8.根据权利要求6所述的8K测试信号生成方法，其特征在于，从所述多个8K测试信号文件中获取所述8K测试信号文件名对应的8K测试信号文件，并将8K测试信号输出，具体包括：

设置8K测试信号的输出模式是SQD模式或SI模式；

根据所述8K测试信号文件名将所述8K测试信号文件从所述信号存储模块分块循环读取到内存中，然后从内存输出，并按照所述参数设置单元设置模式输出8K测试信号；

所述方法还包括：

暂停或停止所述8K测试信号的输出。