[发明专利]一种基于机器视觉的芯片料管计数方法、装置及系统

权利要求书

1.一种基于机器视觉的芯片料管计数方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

S1、读取所存储的MLP训练样本以对所采集图像的目标和背景进行分割；

S2、提取分割出的目标并进行形态学处理，获得各区域；

S3、计算各区域的面积，根据所述面积统计得到区域目标的数量。

2.如权利要求1所述的基于机器视觉的芯片料管计数方法，其特征在于，在步骤S1中，所述MLP训练样本的训练过程具体为：

创建所采集图像的目标和背景样本；

执行create_class_mlp函数创建MLP；

通过函数add_samples_image_class_mlp添加样本，并用函数train_class_mlp训练MLP；

存储训练结果得到MLP训练样本。

3.如权利要求1所述的基于机器视觉的芯片料管计数方法，其特征在于，在步骤S3中，在统计过程中，根据面积判断是否存在两个或三个目标连成一个区域的情况。

4.一种基于机器视觉的芯片料管计数装置，其特征在于，该装置包括：

图像处理模块，用于读取所存储的MLP训练样本以对所采集图像的目标和背景进行分割；

区域获取模块，用于提取分割出的目标并进行形态学处理，获得各区域；

计算模块，用于计算各区域的面积，根据所述面积统计得到区域目标的数量。

5.如权利要求4所述的基于机器视觉的芯片料管计数装置，其特征在于，所述图像处理模块还包括训练样本获取模块，该训练样本获取模块用于：

创建所采集图像的目标和背景样本；

执行create_class_mlp函数创建MLP；

通过函数add_samples_image_class_mlp添加样本，并用函数train_class_mlp训练MLP；

存储训练结果得到MLP训练样本。

6.如权利要求4所述的基于机器视觉的芯片料管计数装置，其特征在于，所述计算模块还用于在统计过程中，根据面积判断是否存在两个或三个目标连成一个区域的情况。

7.一种基于机器视觉的芯片料管计数系统，其特征在于，该系统包括图像获取模块、权利要求4～6任一项所述的芯片料管计数装置以及显示模块；其中，

所述图像获取模块，用于拍摄和采集目标芯片料管的图像；

所述显示模块，用于基于HALCON平台将芯片料管计数装置的中间信息和结果进行显示。