[发明专利]一种基于剪切波速的现场土样三向测试装置及方法有效
申请号: | 201911196702.0 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN110988141B | 公开(公告)日: | 2021-09-14 |
发明(设计)人: | 钱建固;姜文澜;顾晓强;屠梓真 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G01N29/07 | 分类号: | G01N29/07;G01N29/24 |
代理公司: | 上海科律专利代理事务所(特殊普通合伙) 31290 | 代理人: | 叶凤 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 剪切 波速 现场 土样三 测试 装置 方法 | ||
1.一种基于剪切波速的现场土样三向测试装置,其特征在于,包括支架机构、三维测试机构和定位机构,支架机构内设置有土样(20);
所述支架机构包括定位杆(1)、顶帽(2)、底座(3)、对开模(14、15);所述测试机构包括竖向弯曲元(10、11)、竖向压电陶瓷(12、13)、水平向弯曲元(16、17)、水平向压电陶瓷(18、19);所述定位机构包括定位槽(4、5)和圆形凹槽(6、7);其中:
所述顶帽(2)、底座(3)上下放置并由外置的定位杆(1)连接;顶帽(2)、底座(3)内中心处分别安装有竖向弯曲元(10、11),每个竖向弯曲元通过一个竖向压电陶瓷与顶帽(2)、底座(3)之间的土样(20)顶部接触;所述对开模(14、15)抱箍土样(20)的外围,相对位置关系的对开模(14、15)内分别设置有水平向弯曲元(16、17),每个水平向弯曲元通过一个水平向压电陶瓷与土样(20)侧面接触;
上下两个定位槽(4、5)分别设置于顶帽(2)、底座(3)的侧缘,所述定位杆(1)在工作时卡入上下两个定位槽(4、5)而被约束呈垂直状态;上下的圆形凹槽(6、7)分别设于顶帽(2)和底座(3)的表面,顶帽(2)、底座(3)、圆形凹槽(6、7)这四者的圆中心在同一条垂直线上;
在所述顶帽(2)、底座(3)实体内,水平向还分别设置有电缆通道(8、9),用于将竖向压电陶瓷(12、13)信号输出端连接至装置外部;
所述定位杆(1)横截面呈边长为10mm的正方形,表面有刻度;
所述定位槽(4、5)中心连线、电缆通道(8、9)中心连线、通过顶帽(2)和底座(3)的中心连线,以上共面;
所述圆形凹槽(6、7)直径分别为75mm和100mm两种规格,所述对开模(14、15)内径为75mm或100mm;
测试方法为:利用两点确定一条直线的原理,借助定位杆与两个定位槽定位顶帽和底座;首先,使竖直向两个弯曲元的压电陶瓷在现场工作时保持平行,进行土样波速测试,此为第一个维度下的测试;
然后,通过固定两个对开模,使水平向两个弯曲元的压电陶瓷在现场工作时保持平行,进行土样波速测试,此为第二个维度下的测试;
最后,拆开两个对开模,绕土样轴心水平旋转90°后进行土样波速测试,此为第三个维度下的测试;
上述步骤提升现场波速测试的精度,得到土样在竖直向和水平向的波速差异,完成土样各向异性的测试。
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