[发明专利]一种孔隙率检测方法在审
| 申请号： | 201911198736.3 | 申请日： | 2019-11-29 |
| 公开（公告）号： | CN111272624A | 公开（公告）日： | 2020-06-12 |
| 发明（设计）人： | 肖鹏;刘奎;孟嘉;张继敏;周晖 | 申请（专利权）人： | 中国商用飞机有限责任公司;上海飞机制造有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/08 | 分类号： | G01N15/08;G01N23/046 |
| 代理公司： | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人： | 胡彬 |
| 地址： | 200126 上*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 孔隙率 检测 方法 | ||
1.一种孔隙率检测方法，其特征在于，包括：
建立评估曲线，所述评估曲线的横坐标为孔隙率，纵坐标为底片的灰度；
对待检测工件进行射线扫描，并获得检测底片；
确认所述检测底片的实际灰度；
从所述评估曲线中查找与所述实际灰度匹配的横坐标的值，以作为所述待检测工件的实际孔隙率。
2.根据权利要求1所述的孔隙率检测方法，其特征在于，建立所述评估曲线的方法包括：
制作样品组合，所述样品组合包括多个相同厚度的对比试块，各个所述对比试块的孔隙率各不相同，所述对比试块的材质与所述待检测工件的材质相同；
分别对所述样品组合的各个所述对比试块进行射线扫描，并获得多个样品底片；
确认各个所述样品底片的灰度；
在坐标系中以所述对比试块的孔隙率为横坐标，以所述对比试块的样品底片的灰度为纵坐标，建立各个所述对比试块的坐标点；
将各个所述坐标点拟合成所述评估曲线。
3.根据权利要求2所述的孔隙率检测方法，其特征在于，所述样品组合的数量为多个，多个所述样品组合形成样品库，各个所述样品组合中的所述对比试块的厚度不相同；
分别对各个所述样品组合建立所述评估曲线，且各个所述评估曲线的纵坐标不重叠。
4.根据权利要求1所述的孔隙率检测方法，其特征在于，所述射线为X射线。
5.根据权利要求1所述的孔隙率检测方法，其特征在于，还包括待检测工件的材质为碳纤维复合材料。
6.根据权利要求1所述的孔隙率检测方法，其特征在于，通过CT系统对所述待检测工件进行射线扫描，并获得所述检测底片。
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