[发明专利]保护装置出口矩阵校验仪及校验方法

权利要求书

1.保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，包括：多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；

所述采样电路包括三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ。

2.根据权利要求1所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。

3.根据权利要求2所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。

4.根据权利要求3所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。

5.根据权利要求1所述的保护装置出口矩阵校验仪，其特征在于，还包括计时器；当保护装置试验仪向保护装置输入故障量时，所述保护装置试验仪向所述保护装置出口矩阵校验仪发出触发信号；所述处理器接收到触发信号时启动计时器，且当保护装置动作时所述计时器结束并将计时时间作为保护装置动作时间。

6.保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，包括以下步骤：

建立多个端口、多个采样电路和处理器；所述端口的数量与所述采样电路的数量相同，且所述端口和所述采样电路一一对应；所述端口通过与该端口对应的采样电路连接于所述处理器；

在所述采样电路设置三极管Q、电阻R1和电阻R2；所述电阻R1的一端连接于所述端口，且所述电阻R1的另一端连接于所述三极管Q的基极；所述电阻R2的一端连接于所述三极管Q的集电极，所述电阻R2的另一端连接于供电VCC；所述三极管Q的集电极连接于所述处理器，且所述三极管Q的发射极接地；所述电阻R1的阻值大于或等于10MΩ；

当进行采样时，所述采样电路采样所述端口中的电信号并发送至所述处理器，所述处理器对信号进行处理。

7.根据权利要求6所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，所述处理器对多个端口进行循环采样；当任意端口电平突变后，如果在预设时长内电平保持不变，则认为该电平为有效电平并记录有效电平。

8.根据权利要求7所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，所述处理器建立校验矩阵；所述处理器对端口持续采样预设时间T，且采样间隔为k秒，生成Q个采样值；Q个采样值形成一个采样数组并存入所述校验矩阵的一个元素内；所述处理器对一个采样数组内的采样数值获取平均值，当所述平均值与采样数组内最大的采样数值差值小于阈值时，认为该采样数组为有效采样数组，所述有效采样数组内采样数值的平均值为有效电平。

9.根据权利要求8所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，所有处理器将一组检测生成的多个有效电平存入所述校验矩阵的同一行，并将已存入有效电平的校验矩阵的行进行标记；当处理器向所述校验矩阵存入有效电平时，将所述有效电平存入所述校验矩阵中未被标记的行。

10.根据权利要求6所述的保护装置出口矩阵校验方法，其特征在于，当保护装置试验仪向保护装置输入故障量时，所述保护装置试验仪向所述保护装置出口矩阵校验仪发出触发信号；所述处理器接收到触发信号时启动计时器，且当保护装置动作时所述计时器结束并将计时时间作为保护装置动作时间。