[发明专利]一种全光纤表面等离子体共振传感分析仪

权利要求书

1.一种全光纤表面等离子体共振传感分析仪，其特征在于：包括激励光源、非对称光纤耦合光学结构、光电探测器、光纤探头和信号处理装置；

所述光纤探头尾端封闭，依次由渐变段和细段组成；

所述细段的表面覆盖衬底层和金属膜层；

所述非对称光纤耦合光学结构包括非对称光纤耦合器、一根单模光纤和两根多模光纤；所述非对称光纤耦合器的一端并联连接单模光纤和第一多模光纤的一端；所述非对称光纤耦合器的另一端连接第二多模光纤的一端，其中，单模光纤的另一端连接激励光源，第一多模光纤的另一端通过光电探测器连接所述信号处理装置，第二多模光纤的另一端耦合所述光纤探头；

所述光纤探头尾端设置在样品池中；

所述信号处理装置，用于通过检测光纤探头反射光的光强变化完成所述样品池内介质折射率的测量。

2.根据权利要求1所述的全光纤表面等离子体共振传感分析仪，其特征在于：所述激励光源发出的激光的波长为635nm。

3.根据权利要求1或2所述的全光纤表面等离子体共振传感分析仪，其特征在于：所述光纤探头尾端的总长度为1-3cm；

所述细段的芯径为300-500微米；

构成所述衬底层的材料为铬；

所述衬底层的厚度为2-10nm；

所述金属膜层的厚度为30-100nm；

所述金属膜层为金膜层；

所述渐变段的锥角为30度±5度；

所述渐变段的长度为0.5cm。

4.根据权利要求1-3任一所述的全光纤表面等离子体共振传感分析仪，其特征在于：所述光纤为石英光纤；

所述光纤的纤芯直径为575-600微米；

所述光纤的数值孔径为0.22。

5.根据权利要求1-4任一所述的全光纤表面等离子体共振传感分析仪，其特征在于：所述光电探测器为半导体硅基探测器；

构成所述样品池的材质为黑色聚四氟乙烯；所述样品池的管内直径为1毫米。

6.权利要求1-5任一所述全光纤表面等离子体共振传感分析仪在检测折射率中的应用。

7.权利要求1-5任一所述全光纤表面等离子体共振传感分析仪在检测盐溶液的折射率中的应用。