[发明专利]双螺旋光电探测系统及其探测方法

权利要求书

1.一种双螺旋光电探测系统，光电位敏探测系统包括第一螺旋光电位敏探测器(10)和第二螺旋光电位敏探测器(20)；所述第一螺旋光电位敏探测器(10)具有第一光敏面(11)，所述第二螺旋光电位敏探测器(20)具有第二光敏面(21)，所述第一光敏面(11)和所述第二光敏面(21)均为螺旋线形，其特征在于，

所述第一光敏面(11)和所述第二光敏面(21)的线宽和线距均为d，d为入射光斑的直径；所述第一光敏面(11)和所述第二光敏面(21)位于不同平面内，且所述第一光敏面(11)在所述第二光敏面(21)上的正投影与所述第二光敏面(21)关于中心点O呈中心对称结构，所述第一光敏面(11)在所述第二光敏面(21)上的正投影与所述第二光敏面(21)的螺旋线不交叉；

所述双螺旋光电探测系统还包括电流检测模块(40)，所述第一光敏面(11)的两端分别设有第一电极(11a)和第二电极(11b)，所述第二光敏面(21)的两端分别设有第三电极(21a)和第四电极(21b)，所述电流检测模块(40)分别用于检测所述第一电极(11a)、所述第二电极(11b)、所述第三电极(21a)和所述第四电极(21b)输出的响应光电流的大小。

2.根据权利要求1所述的双螺旋光电探测系统，其特征在于，所述光电位敏探测系统还包括光电信号探测器(30)，所述光电信号探测器(30)的探测面(31)与所述第一光敏面(11)、所述第二光敏面(21)分别位于不同平面内，所述光电信号探测器(30)的探测面(31)在所述第二光敏面 (21)上的正投影的中点与所述中心点O重合。

3.根据权利要求1或2所述的双螺旋光电探测系统，其特征在于，所述光电信号探测器(30)的探测面(31)的直径L大于所述d。

4.根据权利要求1或2所述的双螺旋光电探测系统，其特征在于，所述双螺旋光电探测系统还包括处理模块(50)，所述处理模块(50)用于获取所述电流检测模块(40)检测的所述响应光电流的大小，并根据获取的所述响应光电流的大小确定所述入射光斑的极坐标。

5.一种双螺旋光电探测系统的探测方法，其特征在于，采用如上述权利要求1至4任一项所述的双螺旋光电探测系统，所述探测方法包括：

将入射光斑投射在所述双螺旋光电探测系统上；

分别检测所述第一螺旋光电位敏探测器和所述第二螺旋光电位敏探测器输出的响应光电流的大小；

根据检测到的所述响应光电流的大小，分别确定落在所述第一光敏面和所述第二光敏面上的部分光斑的极坐标；

根据所述部分光斑的极坐标确定所述入射光斑的极坐标。

6.根据权利要求5所述的探测方法，其特征在于，所述分别检测所述第一螺旋光电位敏探测器和所述第二螺旋光电位敏探测器输出的响应光电流的大小，包括：

分别检测所述第一光敏面两端的第一电极和第二电极输出的响应光电流I_A1和I_B1；

分别检测所述第二光敏面两端的第三电极和第四电极输出的响应光电流I_A2和I_B2。