[发明专利]一种倍速链传动装置、滚子线扫检测系统及检测方法在审
申请号: | 201911202220.1 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN110736753A | 公开(公告)日: | 2020-01-31 |
发明(设计)人: | 蒋庆松 | 申请(专利权)人: | 苏州斯雷克机电科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/89 | 分类号: | G01N21/89;G01N21/01 |
代理公司: | 32346 江苏瑞途律师事务所 | 代理人: | 韦超峰;陈彬 |
地址: | 215122 江苏省苏州市苏州*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 倍速链 滚子 自转驱动机构 传动装置 滚轮销轴 滚子表面 检测系统 同步带 带轮 滚轮 链轮 滚轮安装 滚轮表面 机械传动 检测领域 线扫相机 检测 自转 经带 转动 运转 配合 | ||
1.一种倍速链传动装置,包括倍速链组(1)和链轮(2),所述的倍速链组(1)中的滚轮(11)安装在滚轮销轴(14)上,倍速链组(1)与链轮(2)配合;其特征在于:还包括自转驱动机构(3),该自转驱动机构(3)包括同步带(35)和设置在滚轮销轴(14)上的带轮(12),带轮(12)与滚轮(11)相对固定,当同步带(35)运转时,经带轮(12)带动滚轮(11)自转。
2.根据权利要求1所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述同步带(35)为齿形同步带,并由自转驱动机构(3)中的主动带轮(33)和从动带轮(34)支撑,带轮(12)是与齿形同步带配合的齿形轮。
3.根据权利要求2所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:在自转驱动机构(3)中的主动带轮(33)和从动带轮(34)之间设置有纵向支撑座(371),用于对同步带(35)支撑和/或导向。
4.根据权利要求3所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述纵向支撑座(371)下方设置有纵向调节座(372),与纵向调节座(372)配合设置有纵向调节螺栓(373),通过该纵向调节螺栓(373)调节纵向支撑座(371)高度位置。
5.根据权利要求4所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述纵向调节座(372)的顶部为支撑面(3713),该支撑面(3713)两侧形成凸起的导向板(3714),所述同步带(35)位于导向板(3714)之间。
6.根据权利要求1所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述自转驱动机构(3)中的从动带轮(34)一侧设置有横向张紧机构,其包括横向滑座(361)和横向调节座(362),从动带轮(34)安装在横向滑座(361)上,横向调节座(362)上设置横向调节螺栓(363),通过横向调节螺栓(363)驱动从动带轮(34)横向移动,调节从动带轮(34)与主动带轮(33)的间距。
7.根据权利要求1所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述滚轮销轴(14)的两端转动连接有套筒(13),链轮(2)的驱动力作用在套筒(13)上。
8.根据权利要求7所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述套筒(13)为滚针导向轴承。
9.根据权利要求7所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述带轮(12)和滚轮(11)均与滚轮销轴(14)固定连接。
10.根据权利要求7所述的一种倍速链传动装置,其特征在于:所述滚轮(11)与滚轮销轴(14)通过轴承连接,带轮(12)固定在滚轮(11)一侧;
或:带轮(12)位于滚轮(11)一端,两者形成整体结构,在该整体结构两端设置轴承。
11.一种采用权利要求1~10任一项所述的倍速链传动装置的滚子线扫检测系统,其特征在于:还包括线扫检测装置,该线扫检测装置中的线扫检测相机对应设置在自转驱动机构(3)上方,在滚轮(11)自转驱动滚子(4)转动时,线扫检测相机对滚子(4)连续拍照检测。
12.根据权利要求13所述的一种滚子线扫检测系统,其特征在于:所述线扫检测相机至少有两个,其中一个用于检测滚子(4)外圆面缺陷,其中另一个用于检测滚子(4)倒角或侧面缺陷。
13.根据权利要求12所述的一种滚子线扫检测系统,其特征在于:两个所述线扫检测相机同时对一个滚子(4)进行检测,或设置在两个工位上先后对同一滚子(4)进行检测。
14.根据权利要求11所述的一种滚子线扫检测系统,其特征在于:采用同步带(35)结构时,同步带(35)至少同时与3个滚轮销轴(14)上的带轮(12)配合,形成至少一个缓冲工位和至少一个检测工位,滚子(4)经缓冲工位进入检测工位。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州斯雷克机电科技有限公司,未经苏州斯雷克机电科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911202220.1/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种表面缺陷检测的光照方式、光照结构及检测装置
- 下一篇:一种硅片检测系统