[发明专利]一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法

权利要求书

1.一种半导体激光器的自动测试标记系统，其特征在于：包括影像系统、点测系统、测试系统、标记系统和控制终端，所述影像系统能够捕捉、读取视野内待测产品的影像并记录，所述点测系统能够对待测产品进行位置与角度的调整，所述测试系统能够检测并记录不合格品，所述标记系统能够对不合格品进行标记，所述影像系统、测试系统、标记系统分别都跟控制终端信号连接，所述点测系统可通过影像系统观察测试样品位置情况进而对测试样品进行位置调节。

2.所述自动测试标记系统还包括安装平台，所述影像系统包括CCD相机(4)、调整底座(3)、显示器(1)，所述CCD相机(4)与调整底座(3)固定连接，所述CCD相机(4)与控制终端信号连接，所述控制终端与显示器(1)信号连接；所述安装平台上安装有调整底座(3)，所述安装平台上设置有点测系统、测试系统和标记系统。

3.根据权利要求2所述的一种半导体激光器的自动测试标记系统，其特征在于：所述点测系统包括第一XYZ精密位移底座(5)、四轴运动工作台，所述第一XYZ精密位移底座(5)安装在安装平台上，所述四轴运动工作台包括XYZ轴直线运动组件(17)、T轴旋转运动组件(16)，所述四轴运动工作台通过XYZ轴直线运动组件(17)对待测产品进行位置调整，所述四轴运动工作台通过T轴旋转运动组件(16)对待测产品进行水平调节。

4.根据权利要求2所述的一种半导体激光器的自动测试标记系统，其特征在于：所述测试系统包括积分球(11)、光电参数测试仪(22)、光谱仪、感应探针(7)，所述安装平台前端中部固定安装有积分球(11)，所述积分球(11)侧方一端设置有光谱仪接线端(12)，所述光谱仪接线端(12)与光谱仪通过光纤连接，所述光谱仪与控制终端信号连接，所述积分球(11)远离光谱仪一端设置有光电参数测试仪接线端(13)，所述光电参数测试仪接线端(13)通过光纤与光电参数测试仪(22)连接，所述光电参数测试仪(22)与控制终端信号连接，所述感应探针(7)固定安装在第一XYZ精密位移底座(5)上。

5.根据权利要求3所述的一种半导体激光器的自动测试标记系统，其特征在于：所述标记系统包括打点器(9)、墨囊(10)、第二XYZ精密位移底座(8)，所述打点器(9)固定安装在第二XYZ精密位移底座(8)上，所述墨囊(10)固定安装在打点器(9)上，所述打点器(9)与控制终端信号连接。

6.一种半导体激光器的自动测试标记系统的测试标记方法，其特征在于：包括以下步骤：

第一步，点测系统对待测产品进行位置调节，将待测产品固定并移动至测试位置；

第二步，点测系统对待测产品进行位置调节，影像系统对待测产品进行扫描，对待测产品进行位置调整；

第三步，点测系统对待测产品进行角度调节，影像系统对待测产品进行扫描，对待测产品进行精密位置调整并定位；

第四步，测试系统对待测产品进行测试；

第五步，标记系统对不合格品进行标记。