[发明专利]存储分层的数据交换测试方法、系统、终端及存储介质在审

专利信息
申请号: 201911203452.9 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN111142787A 公开(公告)日: 2020-05-12
发明(设计)人: 房永昌 申请(专利权)人: 苏州浪潮智能科技有限公司
主分类号: G06F3/06 分类号: G06F3/06
代理公司: 济南舜源专利事务所有限公司 37205 代理人: 张亮
地址: 215100 江苏省苏州市吴*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 存储 分层 数据 交换 测试 方法 系统 终端 介质
【说明书】:

发明提供一种存储分层的数据交换测试方法、系统、终端及存储介质,包括:在测试存储池中创建高级磁盘阵列,并将所述高级磁盘阵列的存储资源全部占用;在测试存储池创建低级磁盘阵列,并在所述低级磁盘阵列上创建第一存储卷;对所述第一存储卷进行IO读写制造热点数据;监控热点数据是否从低级磁盘阵列交换至高级磁盘阵列,若是则判定测试通过。本发明能够节省测试时间和人力资源,能够较好地模拟冷热数据交换场景,测试结果准确度高。

技术领域

本发明涉及存储设备测试技术领域,具体涉及一种存储分层的数据交换测试方法、系统、终端及存储介质。

背景技术

随着大数据时代的到来,数据正在迅速膨胀并变大,而且存在多类型应用环境,存储产品自动分层功能可以自动优化不同应用程序所产生的数据存放位置,使存储达到最优的使用效果。

存储产品自动分层功能即是将不同读写热度的数据自动的、智能的分布在不同的存储层;存储设备根据设备中不同类型的硬盘读写速度的不同将存储分为两层或多层,读写访问次数多的热点数据迁移至读写速度更快优先级更高的存储层,读写次数少的冷数据迁移至读写速度慢的存储层。

数据交换(swap)功能即是上层存储空间已经写满的情况下,热数据往上层迁移的过程中,上层读写热度下降的数据往下迁移进行数据交换;此种场景通过对同一数据频繁访问制造热点数据将上层存储空间填满,然后不再对其进行访问,使其热度降低,同时对另一数据频繁访问,使其变为热数据往上层迁移,此时才会和上层的冷数据进行数据交换,该种模拟方法费时费力,且不容易模拟。

发明内容

针对现有技术的上述不足,本发明提供一种存储分层的数据交换测试方法、系统、终端及存储介质,以解决上述技术问题。

第一方面,本发明提供一种存储分层的数据交换测试方法,包括:

在测试存储池中创建高级磁盘阵列,并将所述高级磁盘阵列的存储资源全部占用;

在测试存储池创建低级磁盘阵列,并在所述低级磁盘阵列上创建第一存储卷;

对所述第一存储卷进行IO读写制造热点数据;

监控热点数据是否从低级磁盘阵列交换至高级磁盘阵列,若是则判定测试通过。

进一步的,所述在测试存储池中创建高级磁盘阵列,并将所述高级磁盘阵列的存储资源全部占用,包括:

利用SSD硬盘创建高级磁盘阵列并将所述高级磁盘阵列添加至所述测试存储池,所述测试存储池的自动分层功能为开启状态;

在所述存储池创建与所述高级磁盘阵列空间大小相同的第二存储卷;

利用数据读写工具将所述第二存储卷写满;

获取所述高级磁盘阵列空余容量信息,确保所述高级磁盘阵列无空余容量。

进一步的,在测试存储池创建低级磁盘阵列并在所述低级磁盘阵列上创建第一存储卷,包括:

利用SAS HDD创建低级磁盘阵列并将所述低级磁盘阵列添加至所述测试存储池;

在所述低级磁盘阵列上创建第一存储卷并开启所述第一存储卷的自动分层功能。

进一步的,所述监控热点数据是否从低级磁盘阵列交换至高级磁盘阵列,包括:

获取所述热点数据存储位置;

若所述热点数据存储位置从低级磁盘阵列切换为高级磁盘阵列,则读取低级磁盘阵列的存储数据;

比对所述存储数据和所述热点数据,若两者不一致则判定热点数据从低级磁盘阵列交换至高级磁盘阵列。

第二方面,本发明提供一种存储分层的数据交换测试系统,包括:

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