[发明专利]样本分析仪孔位配置方法、装置、计算机设备及样本分析仪

说明书

本发明提供一种样本分析仪孔位配置方法、装置、计算机设备及样本分析仪，该方法包括以下步骤：获取样本分析仪的目标检测周期，目标检测周期为两次相邻输出检测结果的时间间隔；获取标准样本的目标孵育时间；根据目标检测周期和目标孵育时间确定孵育区中孵育孔位的配置数量；获取样本的检测时间；根据目标检测周期和检测时间确定检测区中检测孔位的配置数量；根据孵育孔位的配置数量和检测孔位的配置数量对样本分析仪进行孔位配置。通过以上样本分析仪孔位配置方法，对样本分析仪中的孔位进行配置，满足样本分析仪高速循环检测，提高检测效率的同时又能极大的减小样本分析仪的体积。

技术领域

本发明涉及样本检测领域，尤其涉及一种样本分析仪孔位配置方法、装置、计算机设备及样本分析仪。

背景技术

随着体外诊断技术的不断发展，样本分析仪的用途十分广泛，样本分析仪中设置有用于孵育、检测的孔位，通过样本分析仪高效的对样本进行检测。

目前的样本分析仪有的可以满足循环检测，但仪器的体积过大；有的仪器体积合适，但又不能满足循环检测。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提供一种样本分析仪孔位配置方法、装置、计算机设备及样本分析仪。

第一方面，本发明实施例提供一种样本分析仪孔位配置方法，该方法包括以下步骤：

获取样本分析仪的目标检测周期，目标检测周期为两次相邻输出检测结果的时间间隔；

获取标准样本的目标孵育时间；

根据目标检测周期和目标孵育时间确定孵育区中孵育孔位的配置数量；

获取样本的检测时间；

根据目标检测周期和检测时间确定检测区中检测孔位的配置数量；

根据孵育孔位的配置数量和检测孔位的配置数量对样本分析仪进行孔位配置。

在一个实施例中，检测孔位包括：散射检测孔位和透射检测孔位，检测时间包括：散射检测时间和透射检测时间；

根据目标检测周期和检测时间确定检测区中检测孔位的配置数量，包括：

根据目标检测周期和散射检测时间确定检测区中散射检测孔位的配置数量；

根据目标检测周期和透射检测时间确定检测区中透射检测孔位的配置数量。

在一个实施例中，根据目标检测周期和透射检测时间确定检测区中透射检测孔位的配置数量，包括：

获取透射检测所需要添加的试剂数量；

根据试剂数量、目标检测周期和透射检测时间确定检测区中透射检测孔位的配置数量。

在一个实施例中，该方法还包括：

获取样本检测所需添加试剂对应的激活时间；

根据目标检测周期和试剂的激活时间确定检测区中激活孔位的配置数量。

在一个实施例中，需添加试剂为多个，该方法还包括：

获取需添加试剂的种类和每种试剂对应的激活时间；

根据目标检测周期和试剂的激活时间确定检测区中激活孔位的配置数量，包括：

根据目标检测周期和每种试剂对应的激活时间得出每种试剂对应满足要求的激活孔位配置的数量；

将每种试剂对应满足要求的激活孔位的配置数量中最大的激活孔位的配置数量确定为检测区中激活孔位的配置数量。

在一个实施例中，该方法还包括：

获取样本散射检测所需添加试剂的第一激活时间；