[发明专利]摄像头性能测试卡及摄像头测试系统有效
申请号: | 201911205577.5 | 申请日: | 2019-11-29 |
公开(公告)号: | CN112887704B | 公开(公告)日: | 2023-08-04 |
发明(设计)人: | 白剑炯 | 申请(专利权)人: | 北京小米移动软件有限公司 |
主分类号: | H04N17/00 | 分类号: | H04N17/00 |
代理公司: | 北京博思佳知识产权代理有限公司 11415 | 代理人: | 王茹 |
地址: | 100085 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 摄像头 性能 测试 系统 | ||
本公开是关于一种摄像头性能测试卡及摄像头测试系统,摄像头性能测试卡与摄像头模组配合使用,且包括阵列设置的多个色块。设置在每个色块中心位置的对焦标记提升了摄像头模组的对焦效率;而由于带有对焦标记的多个色块阵列设置,使得摄像头性能测试卡能够将相同算法用于不同规格摄像头模组的测试,且能够实现对多个摄像头模组的同时测试。所以,上述摄像头性能测试卡以及使用上述摄像头性能测试卡的摄像头测试系统的测试效果、兼容性和测试效率均得到提升。
技术领域
本公开涉及电子技术领域,尤其涉及摄像头性能测试卡及摄像头测试系统。
背景技术
例如手机等电子产品通常包含摄像头模组,在摄像头模组应用于产品之前需要通过性能测试,以确保电子设备摄像头模组满足预期的拍摄需求。
其中,成像系统的解析力是用于评价摄像头模组性能的关键指标之一,在进行成像系统解析力测试时,需要用到摄像头性能测试卡。待测摄像头模组拍摄摄像头性能测试卡以获得测试图像,再通过相应算法分析该测试图像,进而判断待测摄像头模组的解析力。
然而,由于相关技术中摄像头性能测试卡的结构限制,导致摄像头模组在测试拍摄过程中对焦难度、以及不同规格摄像头模组同步测试难度增加。
发明内容
本公开提供一种摄像头性能测试卡及摄像头测试系统,以在满足不同规格摄像头模组同步测试的前提下,提升摄像头模组在测试拍摄过程的对焦便利性。
根据本公开的第一方面提出一种摄像头性能测试卡,所述摄像头性能测试卡与摄像头模组配合使用,所述摄像头性能测试卡包括阵列设置的多个色块;其中,所述色块的边相对于所述摄像头性能测试卡的横向基准和纵向基准倾斜设置,相邻所述色块的颜色不同,且每个所述色块的中心位置设有对焦标记。
可选的,所述色块的形状为矩形。
可选的,所述多个色块的尺寸相同。
可选的,所述多个色块包括交替设置的白色块和黑色块。
可选的,所述色块的边与所述摄像头性能测试卡的纵向基准之间的倾斜角度包括3度-10度。
可选的,所述对焦标记包括设置在所述色块中心的线条,所述线条的特征尺寸与所述色块的特征尺寸之间存在预设比例。
可选的,所述对焦标记包括交叉设置在所述色块中心的第一直线和第二直线,且所述第一直线和所述第二直线中的一个与所述摄像头性能测试卡的横向基准呈45度角,另一个与所述摄像头性能测试卡的横向基准呈-45度角。
可选的,所述线条包括连续实线和/或间断设置的若干线段。
可选的,所述线条围成不闭合的圆形、三角形和矩形中的一种。
可选的,所述摄像头性能测试卡包括基板层和设置在所述基板层上的功能层,所述色块形成于所述功能层。
可选的,所述基板层为菲林片,所述功能层为设置在所述基板层上的印刷层。
根据本公开的第二方面提出一种摄像头测试系统,所述摄像头测试系统包括测试设备、摄像头模组和所述摄像头性能测试卡,所述摄像头模组与所述测试设备电连接;所述摄像头模组位于在所述摄像头性能测试卡上方,且所述摄像头模组的横向拍摄方向对应于所述摄像头性能测试卡的横向基准和纵向基准中的一个,所述摄像头模组的纵向拍摄方向对应于所述摄像头性能测试卡的横向基准和纵向基准中的另一个。
可选的,所述摄像头测试系统包括多个摄像头模组,所述摄像头性能测试卡配合于多个所述摄像头模组。
本公开的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果:
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