[发明专利]基于可测试面积估算测试性能的测试集重排序方法及装置

说明书

本发明涉及一种基于估算测试性能的测试集重排序方法，包括以下步骤：S1、生成测试集并仿真测试；S2、估算测试集中测试向量的故障测试性能；S3、对估算后的测试集进行重新排序，得到新的测试集。本发明还公开了一种基于估算测试性能的测试集重排序装置，本发明依据测试性能的高低对测试向量进行重新排序，使用重新排序后的测试向量进行测试，可以有效减少故障电路的测试时间，提高测试效率。

技术领域

本发明涉及集成电路测试技术领域，尤其涉及基于可测试面积估算测试性能的测试集重排序方法及装置。

背景技术

随着集成电路制造工艺水平的不断进步，电路集成度的迅速提高，单个芯片上集成的晶体管数呈指数增长，与其相应的测试数据量将更为庞大。自动化测试设备(Automatic Test Equipment,ATE)是用于检测集成电路功能的完整性，是集成电路生产制造的最后流程，以确保集成电路生产制造的品质。随着电路结构复杂性的提高，芯片制造厂商在芯片测试上花费的成本也越来越多。为此，降低测试成本成为了一项重要任务；自动化测试设备ATE的造价昂贵，并且随着芯片更新换代的速度加快，ATE设备也需要随着更新，增加了测试成本。根据摩尔定律，微处理器芯片的电路密度和潜在的计算能力每18个月翻番，如此快的芯片发展速度，很显然ATE设备的更新在处理速度、通道容量、存储容量方面远远满足不了其需求。因此测试方法的研究具有重大的理论意义和实用价值。

在传统的集成电路测试过程中，对于同种集成电路的同种测试类型故障的测试，所有的被测集成电路均采用相同的测试集，且测试集内部测试向量的顺序也是不变的，这就导致测试集如何快速发现故障的测试性能不能达到最优。

测试集的测试性能和生成测试集的自动测试生成算法有关，自动测试生成是指根据集成电路的逻辑结构来生成对应的测试集的一种算法。众所周知，自动测试生成是一个NP(Non-deterministic Polynomial，非确定性多项式)-完全问题，目前不存在一种能在线性时间内完成的测试生成算法。

所以目前自动测试生成算法主要以较高的故障覆盖率为目标，为了达到高故障覆盖的目的，生成的测试集内包含了较多重复的、测试故障的测试性能低下的测试向量，导致测试集整体的测试性能较低。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供基于可测试面积估算测试性能的测试集重排序方法及装置，以解决测试集整体的测试性能较低的问题。

本发明通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：

一种基于估算测试性能的测试集重排序方法，包括以下步骤：

S1、生成测试集并仿真测试；

S2、根据仿真测试结果，估算测试集中测试向量的测试性能；

S3、根据测试性能对估算后的测试集进行重新排序，得到新的测试集。

本发明依据测试性能的高低对测试向量进行重新排序，使用重新排序后的测试向量进行测试，可以有效减少故障电路的测试时间，提高测试效率。

作为本发明进一步的方案：所述生成测试集的方法如下：

利用自动测试生成算法，使集成电路X生成Y测试类型的测试集V₁,V₂,......,V_i,......,V_n，包含输入序列和输出序列。

作为本发明进一步的方案：所述仿真测试方法为：

通过编程搭建仿真环境还原逻辑结构进行故障仿真测试，测试时，依次使用测试集V₁,V₂,......,V_i,......,V_m的每条测试向量对集成电路X进行仿真测试；