[发明专利]一种孔隙率试块的筛选方法、装置、设备及存储介质

权利要求书

1.一种孔隙率试块的筛选方法，其特征在于，包括：

获取试板上第一目标检测区域的第一目标检测图像，并计算所述第一目标检测图像的灰度平均值；

根据所述灰度平均值，确定所述第一目标检测区域的均匀系数；

如果所述均匀系数满足预设标准，则将所述第一目标检测区域作为第一孔隙率试块；

所述根据所述灰度平均值，确定所述第一目标检测区域的均匀系数，包括：

根据所述灰度平均值，计算所述第一目标检测区域的灰度标准差；

基于如下公式计算得到所述第一目标检测区域的均匀系数：

其中，B为均匀系数，σ为灰度标准差，为灰度平均值。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取试板上第一目标检测区域的目标检测图像，包括：

采用数字射线成像检测技术，获取所述试板的参考检测图像；

根据所述参考检测图像，确定第一目标检测区域的第一目标检测图像。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述采用数字射线成像检测技术，获取所述试板的参考检测图像，包括：

获取试板的初始检测图像，并根据所述初始检测图像，确定所述试板的未标记区域；

采用数字射线成像检测技术，获取所述试板的未标记区域的参考检测图像。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取试板的初始检测图像，包括：

采用超声脉冲反射技术，获取试板的初始检测图像。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，还包括：

获取试板上第二目标检测区域的第二目标检测图像，并计算所述第二目标检测图像的灰度平均值；

根据所述灰度平均值，确定所述第二目标检测区域的均匀系数；

如果所述第二目标检测区域的均匀系数与所述第一目标检测区域的均匀系数相同，则将所述第二目标检测区域作为第二孔隙率试块。

6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，如果所述第一孔隙率试块为对比试块，则所述第二孔隙率试块为标定试块；如果所述第二孔隙率试块为标定试块，则所述第一孔隙率试块为对比试块。

7.一种孔隙率试块的筛选装置，其特征在于，包括：

第一目标检测图像获取模块，用于获取试板上第一目标检测区域的第一目标检测图像，并计算所述第一目标检测图像的灰度平均值；

均匀系数确定模块，用于根据所述灰度平均值，确定所述第一目标检测区域的均匀系数；

第一孔隙率试块确定模块，用于如果所述均匀系数满足预设标准，则将所述第一目标检测区域作为第一孔隙率试块；

均匀系数确定模块具体用于：

根据灰度平均值，计算第一目标检测区域的灰度标准差；

基于如下公式计算得到第一目标检测区域的均匀系数：其中，B为均匀系数，σ为灰度标准差，为灰度平均值。

8.一种设备，其特征在于，包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-6中任一所述的孔隙率试块的筛选方法。

9.一种包含计算机可执行指令的存储介质，其特征在于，所述计算机可执行指令在由计算机处理器执行时用于执行如权利要求1-6中任一所述的孔隙率试块的筛选方法。