[发明专利]光学测试装置及光学测试方法有效

专利信息
申请号: 201911207386.2 申请日: 2019-11-29
公开(公告)号: CN110879135B 公开(公告)日: 2021-08-10
发明(设计)人: 肖冯俊树 申请(专利权)人: 昆山国显光电有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02F1/13
代理公司: 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 代理人: 娜拉
地址: 215300 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 光学 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光学测试装置,其特征在于,包括:

导光组件,包括多个呈阵列分布且相互光阻隔设置的光通道,所述多个光通道包括第一光通道和第二光通道;

探头组件,包括光学探头,各所述第一光通道及第二光通道均设置有所述光学探头,所述第一光通道和所述第二光通道套设于对应的所述光学探头上,且所述第一光通道与所述第二光通道的延伸方向垂直于自身所套设的所述光学探头的入光面;

遮光罩,设置于所述导光组件背离所述探头组件的一侧,所述遮光罩具有侧壁和由侧壁围合形成的容纳空间,所述遮光罩背离所述导光组件一侧的所述侧壁上开设有透光口,所述透光口朝向所述第一光通道所套设的所述光学探头的入光面所在平面的正投影与所述第一光通道所套设的所述光学探头的入光面至少部分重叠;

光路变化组件,设置于所述遮光罩的所述容纳空间内,所述光路变化组件包括光向转换件,所述光向转换件与所述第二光通道对应设置,所述光向转换件用于将待测显示面板测试位置发出的特定角度的光线反射至对应的所述第二光通道内,并沿对应的所述第二光通道垂直入射至所述第二光通道所套设的所述光学探头。

2.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,各所述光向转换件可转动和/或高度可调节设置于所述遮光罩的容纳空间。

3.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,所述光向转换件为全反射镜片。

4.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,进一步包括底座,所述探头组件固定于所述底座上,所述底座用于与驱动机构连接,以使所述驱动机构驱动所述底座带动所述探头组件转动。

5.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,各所述光学探头沿同一直线排列。

6.根据权利要求5所述的光学测试装置,其特征在于,所述探头组件包括四个光学探头;所述导光组件包括一个第一光通道和三个第二光通道。

7.根据权利要求6所述的光学测试装置,其特征在于,各所述第一光通道与各所述第二光通道的延伸方向相同。

8.根据权利要求7所述的光学测试装置,其特征在于,各所述光向转换件的反射面与所述第一光通道与第二光通道的延伸方向分别呈15°、22.5°和30°夹角。

9.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,所述第一光通道和所述第二光通道的内表面均设置有吸光层。

10.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,所述导光组件包括保护罩,所述保护罩具有容纳腔,所述容纳腔内设置有多个光阻挡板,多个所述光阻挡板分别围合形成所述第一光通道和所述第二光通道,所述探头组件设置于所述容纳腔内。

11.根据权利要求1所述的光学测试装置,其特征在于,所述导光组件包括具有预定厚度的吸光板,在所述吸光板上沿所述吸光板的厚度方向开设有多个通道,以形成所述第一光通道和所述第二光通道,各所述光学探头位于对应的所述第一光通道和所述第二光通道内。

12.一种光学测试方法,其特征在于,包括:

将光学测试装置移至待测显示面板的测试位置;

点亮待测显示面板,所述测试位置的光线经过所述光学测试装置的透光口进入所述光学测试装置的遮光罩内,其中,平行于第一光通道的延伸方向的部分光线沿所述第一光通道垂直入射至所述第一光通道所套设的光学探头,与所述第一光通道的延伸方向呈特定角度的部分光线经位于所述遮光罩内的光向转换件反射至第二光通道内,并沿所述第二光通道垂直入射至所述第二光通道所套设的光学探头;

根据入射至各所述光学探头的光线,计算所述待测显示面板的光学参数。

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