[发明专利]一种翡翠鉴定的系统及方法有效
申请号: | 201911211998.9 | 申请日: | 2019-12-02 |
公开(公告)号: | CN110779924B | 公开(公告)日: | 2022-01-07 |
发明(设计)人: | 周辉;袁丁;吴红彦;夏征 | 申请(专利权)人: | 北京华泰诺安探测技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/87 | 分类号: | G01N21/87;G01N21/65;G01N21/64;G01N21/01 |
代理公司: | 北京高沃律师事务所 11569 | 代理人: | 杨媛媛 |
地址: | 101312 北京市顺*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 翡翠 鉴定 系统 方法 | ||
1.一种翡翠鉴定系统,其特征在于,所述翡翠鉴定系统包括:
三维位移平台、驱动电机、光源、第一聚光透镜、反射镜、第二聚光透镜、摄像系统、二向色镜、第三聚光透镜、第一拉曼光谱仪、第四聚光透镜、第二拉曼光谱仪和鉴定分析系统;所述光源包括照明光源、第一拉曼光源、第二拉曼光源;所述第一拉曼光谱仪和所述第二拉曼光谱仪为可分析拉曼光和荧光的宽频带拉曼光谱仪;
待鉴定翡翠固定设置在三维位移平台的载物台上;
所述待鉴定翡翠在所述光源的照射下产生出射光;
所述第一聚光透镜、所述反射镜、所述二向色镜、第四聚光透镜和所述第二拉曼光谱仪沿所述出射光的方向依次设置在所述出射光路上;
所述第二聚光透镜和所述摄像系统沿所述反射镜的反射方向依次设置在所述反射镜的反射光路上;
所述第三聚光透镜和所述第一拉曼光谱仪沿所述二向色镜的反射方向依次设置在所述二向色镜的反射光路上;
所述驱动电机的输出轴与所述反射镜的轴连接;
所述摄像系统的输出端、所述第一拉曼光谱仪的输出端和所述第二拉曼光谱仪的输出端与所述鉴定分析系统连接,分别用于获取待鉴定翡翠的图像信息、待鉴定翡翠激发的第一光谱和待鉴定翡翠激发的第二光谱,并发送给所述鉴定分析系统,所述鉴定分析系统用于根据所述图像信息、所述第一光谱和所述第二光谱对待鉴定翡翠进行鉴定;
所述翡翠鉴定系统还包括第一高反滤镜和第二高反滤镜;
所述第一高反滤镜设置在所述第一拉曼光源的出射光路上,所述第一高反滤镜与所述第一拉曼光源的出射光的方向成45°夹角,所述第一高反滤镜反射的第一拉曼光平行射入所述第一聚光透镜,经所述第一聚光透镜聚光后照射在所述待鉴定翡翠上;
所述第二高反滤镜设置在所述第二拉曼光源的出射光路上,所述第二高反滤镜与所述第二拉曼光源的出射光的方向成45°夹角,所述第二高反滤镜反射的第二拉曼光平行射入所述第一聚光透镜,经所述第一聚光透镜聚光后照射在所述待鉴定翡翠上。
2.根据权利要求1所述的翡翠鉴定系统,其特征在于,所述翡翠鉴定系统还包括分束镜;
所述分束镜设置在所述第一拉曼光源和所述第二拉曼光源的出射光路上;
所述第一拉曼光源发出的第一拉曼光透过所述分束镜射入所述第一聚光透镜,经所述第一聚光透镜聚光后照射在所述待鉴定翡翠上;
所述第二拉曼光源发出的第二拉曼光经所述分束镜反射射入所述第一聚光透镜,经所述第一聚光透镜聚光后照射在所述待鉴定翡翠上。
3.根据权利要求1所述的翡翠鉴定系统,其特征在于,所述翡翠鉴定系统还包括: 第一窄带滤光片和第二窄带滤光片;
所述第一窄带滤光片设置在所述二向色镜和所述第三聚光透镜之间,所述第二窄带滤光片设置在所述二向色镜和所述第四聚光透镜之间。
4.根据权利要求1所述的翡翠鉴定系统,其特征在于,所述宽频带拉曼光谱仪为通过对拉曼光谱仪进行缩小数值孔径,增大成像镜焦距的调整,得到的可分析拉曼光和荧光的拉曼光谱仪。
5.根据权利要求1所述的翡翠鉴定系统,其特征在于,第一拉曼光源和第二拉曼光源分别为532nm拉曼光激发光源和785nm拉曼光激发光源。
6.根据权利要求1所述的翡翠鉴定系统,其特征在于,第一拉曼光源和第二拉曼光源分别为435nm拉曼光激发光源和785nm拉曼光激发光源。
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