[发明专利]长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器在审
申请号: | 201911212035.0 | 申请日: | 2019-12-02 |
公开(公告)号: | CN110768104A | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 黄珊珊;黄辉廉;文宏;叶旺;刘建庆 | 申请(专利权)人: | 中山德华芯片技术有限公司 |
主分类号: | H01S5/183 | 分类号: | H01S5/183;H01S5/30 |
代理公司: | 44245 广州市华学知识产权代理有限公司 | 代理人: | 冯炳辉 |
地址: | 528437 广东省中山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 非掺杂 量子点 复合量子点 包覆层 势垒层 衬底 源层 制备 光谱线 垂直腔面发射激光器 晶格常数差异 衬底上表面 控制激光器 岛状结构 发射波长 功率输出 依次设置 阈值电流 电极 长波长 下表面 下电极 缓冲 与非 掺杂 外部 | ||
本发明公开了一种长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器,包括n型GaAs衬底,n型GaAs衬底上表面由下至上依次设置有n型GaAs缓冲层、n型DBR、非掺杂量子点有源层和p型DBR,在p型DBR上制备有上电极,在n型GaAs衬底的下表面制备有下电极;非掺杂量子点有源层由非掺杂GaInNAs/InGaAs复合量子点和非掺杂GaAs势垒层混合而成,非掺杂GaInNAs/InGaAs复合量子点的内部为呈3D岛状结构的GaInNAs量子点,外部为InGaAs包覆层,通过调整InGaAs包覆层中的铟的含量来缓冲GaInNAs量子点与非掺杂GaAs势垒层间由晶格常数差异导致的应力,通过调整GaInNAs量子点中的氮及铟的含量来控制激光器的发射波长达到1.31至1.55μm。本发明具有更低的阈值电流、更窄的光谱线宽、更高的功率输出等特性。
技术领域
本发明涉及半导体激光器的技术领域,尤其是指一种长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器。
背景技术
随着光通信领域的高速发展,国际上一直在探寻低成本、高速率和低功耗的新型光有源器件。其中,激射波长为1.31/1.55μm的光源已经成为中长距离和高速光通信的重要光源。长波长垂直腔面发射激光器(VCSEL)具有与光纤偶尔效率高、调制速率高和功耗低等优点。然而,GaInAsP/InP VCSEL的研制近年来进展不大,主要原因是:1)GaInAsP/InP系材料的导带边偏差小,电子限制能力差,导致严重的载流子泄露,器件的特征温度只有50K;2)GaInAsP/InP系材料的折射率差别小,要制作高反射率的分布布拉格反射镜(DBR)十分困难;3)存在严重的非辐射复合,而且电流限制结构的能力差。
目前,最有可能实用化的长波长VCSEL为GaInNAs/GaAs VCESL,其特点如下:1)特征温度可高达180~200K,具有高度温度稳定性;2)可与高反射率的AlAs/GaAs DBR相集成;3)GaAs作为衬底,晶体质量、器件与集成电路的加工工艺比InP优越,且成本低。通过在InGaAs中引入N,可以使GaInNAs的带隙对应波长扩展到1.3~1.55μm区域。但是,GaInNAs/GaAs VCSEL的制作难点在于:当GaInNAs/GaAs增益波长接近1310或1550nm,材料中N含量增加,GaInNAs并不能形成具有完整晶型的混晶,会出现分相,或形成其它非辐射俘获中心和缺陷,材料质量大幅度下降,激光器表现出比传统激光器高得多的阈值电流密度;因此,要获得高质量的量子肼,应选取N的含量较低为好,但是,要增加增益的峰值波长,必需要提高In含量,导致量子肼的应变量增加,而高应变的GaInNAs/GaAs量子肼影响激光器的可靠性。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术的缺点与不足,提出了一种长波长GaInNAs/InGaAs复合量子点垂直腔面发射激光器,采用GaInNAs/InGaAs复合量子点结构,可以通过改变GaInNAs量子点中的的氮及铟的含量来控制激光器的发射波长达到1.31~1.55μm,结合量子点超晶格结构的优势,通过控制生长条件,得到高质量的以GaInNAs/InGaAs复合量子点及GaAs势垒层的非掺杂量子点有源层。相对于传统量子肼结构,量子点有源材料将使VCSEL获得更低的阈值电流、更窄的光谱线宽、更高的功率输出等优异的特性。同时可以防止在传统量子阱结构中产生的长波范围光学质量下降,并且防止GaInNAs量子点受到热处理时所出现的发射波长朝较短波长范围移动。
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