[发明专利]自动化判定以分拣托盘的方法及托盘分拣系统

说明书

一种自动化判定以分拣托盘的方法，包含下述步骤：取得待判定托盘的识别信息；将所述待判定托盘的识别信息提供至处理装置；所述处理装置依据所述托盘的所述识别信息，判断所述待判定托盘所承载的电路板的缺陷检测信息记录是否符合缺陷判断标准，若所述电路板符合所述缺陷判断标准，则进一步判定所述待判定托盘有缺陷；及将所述处理装置判定有缺陷的所述待判定托盘拣出。借此，能自动化判定以分拣出不良且有缺陷的托盘，以确保在生产在线使用的托盘都是正常可用的状态，能避免托盘本身的缺陷对电路板在焊接的过程造成影响，以提升电路板焊接的质量。

技术领域

本发明涉及一种分拣托盘的方法，特别是涉及一种自动化判定以分拣托盘的方法及托盘分拣系统。

背景技术

现有应用在波峰焊接制程中的托盘，是用以承载电路板以带动其过锡炉，使电子组件焊接于电路板上。然而，托盘若是因为保养过期、未按时清洗，以及使用次数超过寿命规定等因素而未被实时发现且仍在生产线上使用的话，很可能会导致电路板在焊接过程中发生问题。例如托盘上所残留的助焊剂若未被清洗干净，会影响到电路板后续焊接的质量。或者是托盘上用以夹持电路板的夹持件因磨损严重而无法稳固地夹持住电路板，则会导致电路板松脱甚至是与托盘分离的情形。

发明内容

因此，本发明的一目的，在于提供一种能够克服背景技术的至少一个缺点的自动化判定以分拣托盘的方法。

本发明的目的及解决背景技术问题是采用以下技术方案来实现的，依据本发明提出的自动化判定以分拣托盘的方法，包含下述步骤：

取得待判定托盘的识别信息；

将所述待判定托盘的识别信息提供至处理装置；

所述处理装置依据所述待判定托盘的所述识别信息，判断所述待判定托盘所承载的电路板的缺陷检测信息记录是否符合缺陷判断标准，若所述电路板符合所述缺陷判断标准，则进一步判定所述待判定托盘有缺陷；及

将所述处理装置判定有缺陷的所述待判定托盘拣出。

本发明的目的及解决背景技术问题是采用以下技术方案来实现的，依据本发明提出的自动化判定以分拣托盘的方法，包含下述步骤：

储存多个电路板的识别信息及所对应承载所述电路板的托盘的识别信息；

储存由所述托盘所承载的所述电路板的缺陷检测信息记录；

储存缺陷判断标准；

依据所述储存的多个电路板的识别信息及所对应承载所述电路板的托盘的识别信息，求出待判定托盘所对应承载的所述电路板；

依据所储存的所述缺陷检测信息记录及所述缺陷判断标准，判断所述待判定托盘所承载的所述电路板是否符合所述缺陷判断标准；及

若判定所述待判定托盘所承载的所述电路板符合所述缺陷判断标准，则将所述待判定托盘拣出。

本发明的目的及解决背景技术问题是采用以下技术方案来实现的，依据本发明提出的自动化判定以分拣托盘的方法，包含下述步骤：

储存多个电路板的识别信息及所对应承载所述电路板的托盘的识别信息；

依据所述储存的多个电路板的识别信息及所对应承载所述电路板的托盘的识别信息，并且依据待判定托盘的识别信息，求出所述待判定托盘所对应承载的所述电路板；

判断所述待判定托盘所承载的所述电路板的缺陷检测信息记录是否符合缺陷判断标准；及

若判定所述待判定托盘所承载的所述电路板的缺陷检测信息记录符合所述缺陷判断标准，则将所述待判定托盘拣出。

本发明的目的及解决背景技术问题是采用以下技术方案来实现的，依据本发明提出的自动化判定以分拣托盘的方法，包含下述步骤：