[发明专利]一种雾化颗粒粒度测试设备及方法在审
| 申请号： | 201911214479.8 | 申请日： | 2019-12-02 |
| 公开（公告）号： | CN110779836A | 公开（公告）日： | 2020-02-11 |
| 发明（设计）人： | 党博石;刘英 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 11227 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人： | 田媛媛 |
| 地址： | 130033 吉林省长春市*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 样品池 粒度分布 傅里叶变换透镜 雾化颗粒 数据处理装置 准直扩束 激光器 雾化器 探测器 聚焦 药物利用率 控制系统 粒度测试 雾化药物 相对设置 信号获得 在线测量 镜头 焦距 驱动力 病患 粒径 申请 匹配 照射 采集 发送 容纳 测试 | ||
1.一种雾化颗粒粒度测试设备，其特征在于，包括：
样品池，用于容纳雾化颗粒；
位于所述样品池一侧的激光器，用于发出照射所述样品池的光线；
位于所述激光器和所述样品池之间的准直扩束镜头；
与所述准直扩束镜头相对设置的傅里叶变换透镜，用于聚焦经过所述样品池的光，且所述傅里叶变换透镜的焦距在50mm以下；
与所述傅里叶变换透镜相匹配的探测器，用于采集聚焦后光线的光信号；
与所述探测器相连的粒度分布数据处理装置，用于根据所述光信号获得所述雾化颗粒的粒度分布，并发送所述粒度分布至与所述粒度分布数据处理装置相连的雾化器的控制系统，以便所述雾化器调整产生所述雾化颗粒的驱动力。
2.如权利要求1所述的雾化颗粒粒度测试设备，其特征在于，所述探测器包括：
层叠的环形阵列探测器和中心单点探测器，其中，所述环形阵列探测器靠近所述傅里叶变换透镜。
3.如权利要求2所述的雾化颗粒粒度测试设备，其特征在于，所述粒度分布数据处理装置包括上位机和下位机两者中的一种、模数转换器、信号放大器。
4.如权利要求3所述的雾化颗粒粒度测试设备，其特征在于，还包括：
分别与所述粒度分布数据处理装置和所述样品池相连的所述雾化器。
5.如权利要求4所述的雾化颗粒粒度测试设备，其特征在于，还包括：
提示装置，用于当所述粒度分布满足预设条件时，发出提示信息。
6.如权利要求5所述的雾化颗粒粒度测试设备，其特征在于，所述雾化器为超声雾化器或者筛孔雾化器。
7.一种雾化颗粒粒度测试方法，其特征在于，包括：
获取电信号，其中，所述电信号由经过容纳有雾化颗粒的样品池的光转换得到；
根据所述电信号，确定所述雾化颗粒的粒度分布；
发送所述粒度分布至雾化器的控制系统，以便所述雾化器调整产生所述雾化颗粒的驱动力。
8.如权利要求6所述的雾化颗粒粒度测试方法，其特征在于，还包括：
当所述粒度分布满足预设条件时，发出提示信息。
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