[发明专利]测试装置

权利要求书

1.一种测试装置，其特征在于，所述测试装置包括探针模组和压紧组件，

所述探针模组包括探针座及多个探针，所述探针座的上侧中部设有用于放置电子器件的收容槽，所述多个探针设于所述探针座中并贯穿探针座的上、下两侧，用于将位于探针模组下侧的测试电路板与位于探针模组的收容槽内的电子器件电性导通，

所述压紧组件包括底框、上盖及两压爪，所述底框用于与所述测试电路板相固定，所述探针模组位于所述底框中，所述底框的相对两侧分别设有两缺口以分别用于容纳所述两压爪，所述上盖设于所述底框上，并在所述上盖和底框之间设有弹性元件，每一压爪通过一拉轴与所述上盖连接及通过一支轴与所述底框连接，且所述拉轴位于所述支轴的外侧，所述上盖在所述弹性元件的弹性力作用下，使所述拉轴、支轴及压爪位于下压电子器件的第一位置，通过下压上盖预定距离，可以使拉轴、支轴及压爪联动至松开电子器件的的第二位置。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述上盖设有用于对拉轴进行导向和限位的横向导槽，所述底框设有用于对所述拉轴进行导向和限位的斜槽，所述底框设有用于对所述支轴进行导向和限位的横向支撑槽，所述横向支撑槽位于所述斜槽的内侧；在所述第一位置时，所述拉轴位于所述横向导槽的内端和所述斜槽的顶端，所述支轴位于所述横向支撑槽的内端，所述压爪呈内伸状态以用于压紧收容槽中的电子器件；在所述第二位置时，所述拉轴位于所述横向导槽的外端和所述斜槽的底端，所述支轴位于所述横向支撑槽的外端，所述压爪呈外移状态以用于松开收容槽中的电子器件。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述斜槽包括位于上部的一竖直段和位于下部的一倾斜段，所述倾斜段由所述竖直段的底端向外向下倾斜延伸。

4.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，所述上盖与所述底框的两缺口相对的两侧各自向下延伸有两拉柱，所述两拉柱呈间隔设置，所述横向导槽设于所述拉柱上并靠近所述拉柱的底端设置，所述压爪的外端位于所述两拉柱之间，所述底框于与所述两拉柱相对的侧面上分别设有所述斜槽，所述拉轴的两端分别穿过两拉柱上的横向导槽并插入所述斜槽中。

5.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于，在所述第一位置时，所述拉轴和支轴在水平方向上平齐。

6.如权利要求4所述的测试装置，其特征在于，所述底框与所述两拉柱相对的侧面上分别设有两第一竖向导槽，用于对所述两拉柱进行限位和导向。

7.如权利要求1至6中任意一项所述的测试装置，其特征在于，所述底框的另一相对两侧各自设置有第二竖向导槽，所述上盖对应所述第二竖向导槽朝向所述底框延伸有限位柱，所述第二竖向导槽用于对所述限位柱进行导向和限位。

8.如权利要求7所述的测试装置，其特征在于，所述底框于所述第二竖向导槽内形成有限位凸块，所述限位柱上对应所述限位凸块设有限位槽，所述限位槽用于所述限位凸块进行导向和限位。

9.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述弹性元件包括四根压缩弹簧，所述四根压缩弹簧分别设置在所述底框和上盖的四个角的位置。

10.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于，所述探针座包括底板、中固定板和上浮板、所述中固定板和上浮板依次设置在所述底板上，通过所述底板和中固定板对多个探针进行固定，所述上浮板与中固定板之间设有压缩弹簧以形成浮动连接。